[发明专利]一种仪表刻度线的提取方法在审

专利信息
申请号: 201810963346.X 申请日: 2018-08-22
公开(公告)号: CN109238333A 公开(公告)日: 2019-01-18
发明(设计)人: 汪俊锋;林传文;程炳权;刘罡 申请(专利权)人: 安徽慧视金瞳科技有限公司
主分类号: G01D13/00 分类号: G01D13/00
代理公司: 上海精晟知识产权代理有限公司 31253 代理人: 冯子玲
地址: 230000 安徽省合肥市高新区黄*** 国省代码: 安徽;34
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摘要:
搜索关键词: 仪表表盘 仪表刻度 鼠标 表盘中心 刻度区域 刻度线 内边框 外边框 截取 排序 检测仪表 人工成本 鼠标点击 仪表检测 检测 图片
【权利要求书】:

1.一种仪表刻度线的提取方法,其特征在于,包括以下步骤:

S01:得到一张待检测图片:通过将相机的位置、视野、焦距调整至待拍摄的仪表的正前方进行拍摄,并将拍摄所得的图片上传至电脑得到一张待检测电子版的仪表图片;

S02:通过鼠标点击选择仪表表盘的位置:在表盘的外框标记关键点,通过对关键点拟合成椭圆并计算出椭圆中心点,通过软件检测和人工检测判断拟合结果是否符合要求,得出表盘中心点;

S03:通过鼠标选择仪表表盘的外边框和刻度线的内边框并截取刻度区域;

S04:提取出刻度的位置;

S05:计算当前刻度与表盘中心的角度进行排序。

2.根据权利要求1所述的一种仪表刻度线的提取方法,其特征在于,所述步骤S03中通过鼠标选择仪表表盘的外边框和刻度线的内边框并截取刻度区域是通过以下具体方法实现的:

首先,通过使用鼠标在仪表图片中标记两个关键点,再根据步骤S02中获取到的仪表中心点,认定标记点的位置到中心点的位置的距离为半径,根据计算圆的公式πr2,即可计算得出两个圆的信息;

然后,截取生成的外圆内的像素信息,剔除内圆中的像素信息即可得到圆环状的刻度线的区域信息。

3.根据权利要求1所述的一种仪表刻度线的提取方法,其特征在于,所述步骤S04中提取出刻度的位置是通过以下具体方法实现的:

通过对刻度线区域进行二值化和计算连通域的最小外接圆即可得出刻度的中心点信息,最小外接圆的计算原理是计算的出连通区域中最长的直线以其中点为圆心,其长度为直径计算的出最小外接圆。

4.根据权利要求1所述的一种仪表刻度线的提取方法,其特征在于,所述步骤S05中计算当前刻度与表盘中心的角度进行排序具体是通过以下方法实现的:

通过步骤S04中提取的刻度信息,连接步骤S02中得出的表盘中心点与刻度信息点计算出角度信息,以中心点建立直角坐标系,按照象限结合角度信息即可完成刻度信息点的排序工作;计算公式为PI=3.14;如果是第一象限angle=PI/2.0;第二象限angle=PI-angle;第三象限angle=PI+angle;第四象限angle=PI*2.0-angle。

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