[发明专利]一种基于开放腔法珀干涉仪的折射率测量方法有效

专利信息
申请号: 201810964412.5 申请日: 2018-08-23
公开(公告)号: CN108956534B 公开(公告)日: 2020-08-07
发明(设计)人: 张诚;杨丹;赵军发 申请(专利权)人: 天津工业大学
主分类号: G01N21/45 分类号: G01N21/45
代理公司: 天津市三利专利商标代理有限公司 12107 代理人: 仝林叶
地址: 300387 *** 国省代码: 天津;12
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要:
搜索关键词: 一种 基于 开放 腔法珀 干涉仪 折射率 测量方法
【权利要求书】:

1.一种基于开放腔法珀干涉仪的折射率测量方法,其特征在于:根据干涉仪输出光谱中参考波长位置处的目标自由光谱范围的大小、阶次与被测折射率的关系,跟踪指定阶次目标干涉谷的波长漂移位置,利用目标干涉谷波长与折射率的关系式计算出开放腔内介质的折射率;具体步骤如下:先用测量范围内一系列已知折射率的匹配液对开放腔法珀干涉仪进行标定,获取不同折射率下:目标自由光谱范围大小与阶次的关系式、目标干涉谷波长与被测折射率的关系式,具体的是:

将被测折射率的最小值作为初始折射率,记为n0,此时所对应的干涉谱为初始干涉谱,取初始干涉谱中任意干涉谷对应的波长为参考波长,将该参考波长短波方向相邻的干涉谷作为目标干涉谷,其阶次定义为m,表示为dipm(n),其中n为该干涉谱对应的环境折射率SRI;初始态下的目标干涉谷波长为dipm(n0),目标自由光谱FSR范围为m阶,

根据双光束干涉理论,第m阶干涉谷波长dipm的表达式为:

式中,n为开放腔内介质折射率,即环境折射率SRI;L为开放腔的长度;在L不变的情况下,同一阶次的dipm与SRI呈线性关系,通过跟踪dipm的变化,可以实现SRI的测量;

目标FSR与折射率的关系存在以下规律:(1)目标FSR对应的阶次逐渐增加;(2)同一阶次的目标FSR大小线性增加;(3)较低阶次的目标FSR的大小和折射率灵敏度均大于较高阶次的目标FSR;(4)某一阶次目标FSR的最大值等于较低一阶目标FSR的最小值;(5)目标FSR的大小与SRI是一一对应的;

然后将该开放腔法珀干涉仪用于实测,根据实测干涉谱中的目标自由光谱范围大小确定目标自由光谱范围的阶次,从而推断目标干涉谷的位置,

最后利用已标定的目标干涉谷波长与折射率的关系式,计算出被测折射率的值;

所述参考波长指定为被测折射率达到测量最小值时法珀干涉仪干涉谱中任意一个干涉谷的波长;

所述参考波长位置处的目标自由光谱范围是指与参考波长短波方向相邻波谷同阶次的自由光谱范围;

所述指定阶次的目标干涉谷定义为被测折射率达到测量最小值时,干涉谱中参考波长短波方向相邻的干涉谷。

2.根据权利要求1所述的一种基于开放腔法珀干涉仪的折射率测量方法,其特征在于:所述法珀干涉仪为双光束干涉的开放腔结构。

下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于天津工业大学,未经天津工业大学许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201810964412.5/1.html,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top