[发明专利]测量装置和测量方法

说明书

用于测量无线设备的杂散发射的测量装置和测量方法。测量装置包括至少两个天线，其中第一天线布置在无线设备附近。在第一步骤中，通过测量由第一天线接收的无线信号来确定与杂散发射有关的频率。在第二步骤中，通过第二设备测量杂散发射。

技术领域

本发明涉及一种测量装置。本发明还涉及一种测量方法。

背景技术

虽然原则上适用于任何无线测量装置，但是本发明及其根本问题将在下文中结合无线通信设备的测试进行描述。

随着高速无线数据通信的发展，无线通信系统用于电子设备之间的通信的用途不断增加。

在开发或生产用于这种通信系统的设备期间，必须彻底测试设备是否符合通信标准和法律规定。

为此目的，测试无线通信设备可以包括分析无线通信设备的射频发射。在一些情况下，通信设备不仅可以发射与一个或多个期望频率或频率范围有关的无线信号。而且，由于谐波或任何其他原因，可能会发射更多不需要的射频发射。这种不需要的射频发射可以被认为是杂散发射。例如，ITU-R SM.329-7的建议中讨论了杂散发射。

在此背景下，本发明所解决的问题是为无线设备提供通用且简单的杂散发射测量。

发明内容

本发明利用具有独立权利要求的特征的测量装置和测量方法解决了该问题。进一步的实施例是从属权利要求的主题。

根据第一方面，提供了一种用于测量被测设备的杂散发射的测量装置。测量装置包括第一天线、第二天线和测量设备。第一天线可以布置在被测设备附近。第一天线适于从被测设备接收第一无线信号。第二天线适于从被测设备接收第二无线信号。测量设备耦合到第一天线和第二天线。测量设备适于识别接收的第一无线信号的预定频率范围中的杂散发射。测量设备还适于确定第一无线信号中所识别的杂散发射的若干一个或多个频率。此外，测量设备适于在第一无线信号中所识别的杂散发射的所确定的频率处测量第二无线信号中的杂散发射。

根据第二方面，提供了一种用于测量被测设备的杂散发射的测量方法。测量方法包括从被测设备接收第一无线信号。具体地，第一无线信号由布置在被测设备附近的第一天线接收。该方法包括进一步识别第一无线信号的预定频率范围中的杂散发射，以及确定第一无线信号中所识别的杂散发射的多个频率。此外，该方法包括由第二天线从被测设备接收第二无线信号，并在第一无线信号中所识别的杂散发射的所确定的多个频率处测量第二无线信号中的杂散发射。

本发明基于以下事实：测量被测设备的杂散发射，特别是测量被测设备的三维环境中的杂散发射，这可能是复杂的，因此是耗时的过程。由于杂散发射的频率通常是未知的，因此三维空间中的杂散发射的传统测量必须测量预定三维空间中的每个空间位置处的整个频率范围。

因此，本发明的思想是简化并加速无线设备的杂散发射的测量。具体地，本发明的思想是将杂散发射的测量分成两个任务。在第一个任务中，确定杂散发射的频率，并且随后仅在第一任务中确定的频率处执行杂散发射的详细测量。以这种方式，不再需要在被测设备的三维环境的每个空间位置处执行整个频率范围的测量。

本发明还通过第一天线，特别是布置在被测设备的空间附近的天线来执行杂散发射的频率的识别。例如，用于识别杂散发射频率的第一天线可以布置在仅几厘米的距离处，例如小于20厘米、10厘米、5厘米、3厘米、或甚至小于1厘米。因此，甚至可以接收仅具有低信号强度的杂散发射。特别是，当在非常靠近被测设备的地方使用天线时，不需要引起额外干扰的非常高的放大来识别杂散发射。