[发明专利]模块化数字阵列天线的振动测试方法

说明书

本发明公开了模块化数字阵列天线的振动测试方法，包括以下步骤：S1、在理想状态下对模块化数字阵列天线进行电性能测试，记录测试结果；S2、建立三维模拟振动试验装置，设置随机单向振动模式和随机混合振动模式；S3、对模块化数字阵列天线进行一次性运输模拟，将模块化数字阵列天线取出进行电性能测试，记录测试结果；S4、对模块化数字阵列天线进行累积性运输模拟，将模块化数字阵列天线取出进行电性能测试，记录测试结果；S5、对测试结果进行对比分析计算，得出模块化数字阵列天线的运输振动条件测试报告。其应用时，可以对数字阵列天线进行运输振动条件模拟，并对其进行电性能测试，以便分析评判运输过程对数字阵列天线的性能影响。

技术领域

本发明涉及数字阵列天线测试技术领域，具体涉及模块化数字阵列天线的振动测试方法。

背景技术

数字阵列天线是数字阵列雷达的重要组成部分，具有通道多、损耗小、副瓣低等特点，良好的数字阵列天线性能是雷达整体性能保证的前提。随着研发和生产技术的提高，出现了模块化的数字阵列天线设备，在满足性能指标的前提下实现了小型化、轻量化、低功耗。现有的针对模块化数字阵列天线的性能测试都是在理想状态下进行的，而数字阵列天线在实际投入使用前要经过一系列的存储运输，运输过程会带来振动影响，且其投入使用的环境也可能是较为恶劣的天气环境，这些额外因素都会对数字阵列天线的性能产生影响，只是单纯对其进行理想状态下的性能测试是远远不够的。

发明内容

本发明针对现有技术存在的不足，提供模块化数字阵列天线的振动测试方法，其应用时，可以对数字阵列天线进行运输振动条件模拟，并对其进行电性能测试，以便分析评判运输过程对数字阵列天线的性能影响。

本发明通过以下技术方案实现：

模块化数字阵列天线的振动测试方法，包括以下步骤：

S1、在理想状态下对模块化数字阵列天线进行电性能测试，记录测试结果；

S2、根据三维坐标模型的X、Y、Z轴建立三维模拟振动试验装置，三维模拟振动试验装置设置随机单向振动模式和随机混合振动模式，随机单向振动模式即随机选择X、Y、Z轴方向进行单向振动，随机混合振动模式即随机选择X、Y、Z轴方向进行两两组合或三个方向同时进行混合振动；

S3、将模块化数字阵列天线进行包装，然后置于三维模拟振动试验装置中固定，进行一次性运输模拟，使三维模拟振动试验装置的随机单向振动模式和随机混合振动模式交叉进行连续振动，振动结束后，将模块化数字阵列天线取出进行电性能测试，记录测试结果；

S4、将模块化数字阵列天线进行包装，然后置于三维模拟振动试验装置中固定，进行累积性运输模拟，使三维模拟振动试验装置的随机单向振动模式和随机混合振动模式交叉进行间隔式的累积振动，振动过程结束后，将模块化数字阵列天线取出进行电性能测试，记录测试结果；

S5、将步骤S1、步骤S3和步骤S4得出的测试结果输入计算机进行对比分析计算，得出模块化数字阵列天线的运输振动条件测试报告。

优选地，所述三维模拟振动试验装置在X、Y、Z轴上的振动频率f分别在5～40Hz范围内随机变化，其功率谱密度PSD在0.01～0.04g²/Hz范围内变化。

优选地，在步骤S3中，进行一次性运输模拟的连续振动为85min。

优选地，在步骤S4中，累积振动的总时长为425min，振动过程可分段进行，每段振动时间不低于30min，每两段振动之间的间隔停歇不超过5min。

优选地，在三维模拟振动试验装置的下限振动频率达不到5Hz时，将振动频率f调整至10～40Hz范围内。

本发明具有如下的优点和有益效果：