[发明专利]二极管检测装置

说明书

本发明属于二极管封装领域，具体公开了二极管检测装置，包括机架，机架上设有传送带，传送带上设有两个平行的信号通行缝，信号通行缝均沿传送带的传送方向延伸，两个信号通行缝外边沿之间的距离与框架带内边沿之间的距离相等，两个信号通行缝之间设有检测缝，检测缝下方设有用于驱动二极管引脚移动的露缝机构；两个信号通行缝上方均设有信号发射器，两个信号通行缝下方均设有信号接收器，机架上还设有与信号发射器和信号接收器均电连接的控制器，信号发射器间歇性发出信号，信号接收器接收信号并将信号传递给控制器；机架上还设有与控制器电连接的废料切除机构。采用本发明能提高目前人工检测二极管的效率。

技术领域

本发明涉及二极管封装领域，具体涉及二极管检测装置。

背景技术

晶体二极管为一个由p型半导体和n型半导体形成的p-n结，在其界面处两侧形成空间电荷层，并建有自建电场。二极管在电路中主要起稳压、检波、整流、钳位、限幅等作用。功率型二极管主要包括肖特基二极管、快恢复二极管和工频二极管等。随着电子产品的轻薄短小，作为基础元器件的功率二极管，也开始了小型化、集成化、高频化的趋势。

二极管的生产主要包括管芯生产和成品管生产，其中成品管生产流程包括测片—划片—检验合格管芯—装配—烧结(封装)—电参数测试—筛选—电镀—打印，其中二极管的封装结构如图1所示，将二极管2的两个引脚201封装进框架带1中，实现各个二极管2的有序排列和固定，二极管2封装完成后，需要对封装完成的二极管2进行检测，检测二极管2的引脚201是否被封装进框架带1中，目前对二极管的检测主要依靠人工目测，但是人工检测工作量大、效率低，不利于实现全自动机械流水线生产。

发明内容

本发明的目的在于提供二极管检测装置，以提高目前人工检测二极管的效率。

为达到上述目的，本发明采用如下技术方案：

二极管检测装置，包括机架，机架上设有传送带，传送带上设有两个平行的信号通行缝，信号通行缝均沿传送带的传送方向延伸，两个信号通行缝外边沿之间的距离与框架带内边沿之间的距离相等，两个信号通行缝之间设有检测缝，检测缝下方设有用于驱动二极管引脚移动的露缝机构；两个信号通行缝上方均设有信号发射器，两个信号通行缝下方均设有信号接收器，机架上还设有与信号发射器和信号接收器均电连接的控制器，信号发射器间歇性发出信号，信号接收器接收信号并将信号传递给控制器；机架上还设有与控制器电连接的废料切除机构。

本方案的原理在于：

传送带用于传送封装好的多个二极管，废料切除机构用于切除封装失败的二极管，露缝机构用于驱动二极管引脚移动，若二极管两端的引脚均被成功封装进框架带中，则露缝机构作用于二极管时，二极管引脚与框架带之间不会脱离，二极管引脚末端与框架带之间不会出现缝隙，若二极管两端的引脚未被成功封装进框架带中，则露缝机构作用于二极管时，二极管引脚与框架带之间会脱离，二极管引脚末端与框架带之间会出现缝隙。信号发射器用于间歇性发射信号，根据相邻二极管引脚之间的距离设定信号发射器发射信号的间隔时间，使得信号发射器每次发射的信号恰好经过二极管引脚末端与框架带相连处，若二极管引脚末端与框架带之间未出现缝隙，即二极管封装成功，信号发射器发射的信号被二极管引脚所阻挡，信号接收器接收不到信号，则废料切除机构不工作；若二极管引脚末端与框架带之间出现缝隙，即二极管封装失败，信号发射器发射的信号通过该缝隙，信号接收器接收到此信号，并将信号传递给控制器，控制器控制废料切除机构将该封装失败的二极管切除。

采用本方案能达到如下技术效果：

1、通过信号发射器和信号接收器的设置，能够自动判断二极管引脚末端是否封装成功，与目前通过人工目测相比，自动化程度高，检测效率得到极大提高。

2、露缝机构的设置，确保了封装失败的二极管引脚末端能与框架带之间露出缝隙，保证了检测结果的准确性。