[发明专利]一种热膨胀测量仪及使用方法

权利要求书

1.一种热膨胀测量仪，其特征在于：包括设置在平台上的气浮导轨，气浮导轨上一端固定有激光干涉仪调整云台，激光干涉仪调整云台上安装有激光干涉仪激光器，气浮导轨上还滑动安装有两个气浮滑架，靠近激光干涉仪激光器的气浮滑架上固定有y向微调平台，y向微调平台上安装有分光镜及反射镜组，远离激光干涉仪激光器的气浮滑架上固定有y-z两自由度微调平台， y-z两自由度微调平台上固定有反射镜，且反射镜朝向分光镜及反射镜组；两个气浮滑架的底部分别垂直固定有一个测针，气浮导轨下的平台上固定有两个三自由度微调平台，两个三自由度微调平台上分别固定有一个窄V型块，两窄V型块用于放置被测试样。

2.根据权利要求1所述的一种热膨胀测量仪，其特征在于：所述的两个气浮滑架，其中一个气浮滑架两侧分别固定有一柔性丝线，另一个气浮滑架两侧分别固定有一V型槽螺栓轴承，两柔性丝线分别绕过其同侧的V型槽螺栓轴承，且两柔性丝线的另一端分别固定有一个小重锤。

3.根据权利要求1所述的一种热膨胀测量仪，其特征在于：所述的测针端部为球形测尖，测尖的半径与被测试样的半径相同。

4.根据权利要求1所述的一种热膨胀测量仪，其特征在于：所述的分光镜及干涉镜组由镜组安装架安装在y向微调平台上，分光镜及干涉镜组可调整沿z方向的位置及绕z方向的角度；所述y-z两自由度微调平台上的反射镜沿y、z方向的位置可进行微调；使得激光干涉仪激光器发出的激光束经分光镜分光并且一路激光经反射镜反射后与另一路激光干涉且与气浮导轨平行。

5.根据权利要求1所述的一种热膨胀测量仪，其特征在于：所述的两个三自由度微调平台上的窄V型块的y、z方向的位置及绕z方向的转角可进行微调，保证被测试样与气浮导轨平行。

6.一种权利要求1所述的一种热膨胀测量仪的使用方法，其特征在于包括以下步骤：

（1）、移动一个气浮滑架，使气浮滑架下的测针端部与一窄V型块的两面接触且能够左右移动，然后移动另一个气浮滑架，使气浮滑架下的测针端部与另一V型块的两面接触且能够左右移动；

（2）、将被测试样放置在两个窄V型块上，且使两个气浮滑架下的测针端部分别接触被测试样的两侧端面，调节环境温度至20℃并稳定一段时间，记录激光干涉仪示值a；

（3）、改变环境温度至一定温度并稳定一段时间，记录激光干涉仪示值b，b-a为被测试样在当前环境温度下的热变形量。