[发明专利]基于微波处理的非传统光伏硅片清洗干燥工艺有效
申请号: | 201810971070.X | 申请日: | 2018-08-24 |
公开(公告)号: | CN109378355B | 公开(公告)日: | 2020-05-05 |
发明(设计)人: | 曾杰 | 申请(专利权)人: | 曾杰 |
主分类号: | H01L31/18 | 分类号: | H01L31/18;H01L21/02 |
代理公司: | 淄博启智达知识产权代理事务所(特殊普通合伙) 37280 | 代理人: | 王燕 |
地址: | 新加坡宏茂桥区5*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 基于 微波 处理 传统 硅片 清洗 干燥 工艺 | ||
1.一种基于微波处理的非传统光伏硅片清洗干燥工艺,其中,光伏硅片是经切片,倒角,研磨,抛光加工成的硅片,其特征在于将微波清洁用于光伏硅片有机物的清除,包括以下步骤:
(1)将盛装光伏硅片的花篮转移至微波干燥炉中;
(2)启动微波电源,进行加热,并利用红外温度传感器监控光伏硅片表面温度;步骤(2)中加热时间为205-215s;
(3)加热完成后,开启微波干燥炉上方排气口,从光伏硅片下方输入空气流,排出微波干燥炉内的废气;红外温度传感器反馈光伏硅片表面温度低于50℃,停止输入空气流,清洗干燥工艺完毕,去除光伏硅片表面残余的有机物。
2.根据权利要求1所述的基于微波处理的非传统光伏硅片清洗干燥工艺,其特征在于:步骤(2)中微波电源频率为2.45GHz或5.8GHz;微波电源功率为300-4000W。
3.根据权利要求1所述的基于微波处理的非传统光伏硅片清洗干燥工艺,其特征在于:步骤(2)中加热开始后,光伏硅片表面温度随时间升高,在25-35s达到稳定值60-90℃,根据红外温度传感器的回馈,温度稳定180s后,关掉微波电源,加热完成。
4.根据权利要求1所述的基于微波处理的非传统光伏硅片清洗干燥工艺,其特征在于:步骤(3)中空气流输入速度为1-10L/min,空气流输入过程持续5-20s。
5.根据权利要求1所述的基于微波处理的非传统光伏硅片清洗干燥工艺,其特征在于:光伏硅片表面存在金属和无机物时,在步骤(1)之前增加按照金属和无机物清洗流程清洗光伏硅片的步骤。
6.根据权利要求5所述的基于微波处理的非传统光伏硅片清洗干燥工艺,其特征在于:步骤(2)中加热时间为25-60s。
7.根据权利要求6所述的基于微波处理的非传统光伏硅片清洗干燥工艺,其特征在于:步骤(2)中加热开始后,光伏硅片表面温度随时间升高,在15-50s达到峰值80-300℃,根据红外温度传感器的回馈,温度停止上升后10s,关掉微波电源,加热完成。
8.一种实现权利要求1所述工艺的基于微波处理的非传统光伏硅片清洗干燥装置,包括微波干燥炉本体(3),其特征在于:微波干燥炉本体(3)顶部开设光伏硅片出入口(1)和供废气排出的上方排气口(2),内部设置样品支架(4),样品支架(4)内部设置贯通样品支架(4)的用于输入空气流的进气管路(5),微波干燥炉本体(3)上还设置红外温度传感器(9)。
9.根据权利要求8所述的基于微波处理的非传统光伏硅片清洗干燥装置,其特征在于:微波干燥炉本体(3)外部设置1-4个微波加热装置(8);微波干燥炉本体(3)底部安装有三个底部支撑(6);在微波干燥炉本体(3)的顶部或侧面设置红外温度传感器(9)。
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H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L31-00 对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射,或微粒辐射敏感的,并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或者专门适用于通过这样的辐射进行电能控制的半导体器件;专门适用于制造或处理这些半导体器件或其部件的方法或
H01L31-02 .零部件
H01L31-0248 .以其半导体本体为特征的
H01L31-04 .用作转换器件的
H01L31-08 .其中的辐射控制通过该器件的电流的,例如光敏电阻器
H01L31-12 .与如在一个共用衬底内或其上形成的,一个或多个电光源,如场致发光光源在结构上相连的,并与其电光源在电气上或光学上相耦合的