[发明专利]用于检测连接器上的外物的电子装置和方法

说明书

提供了一种电子装置以及通过电子装置执行的外物检测方法，该电子装置包括：连接器，其包括多个引脚；以及检测电路，其具有上拉电路和下拉电路中的至少一个以及所述多个引脚中的第一引脚与第二引脚之间的连接电路，所述检测电路被构造为：选择第一引脚和第二引脚，通过控制连接电路与上拉电路和下拉电路中的至少一个的连接来测量所选择的第一引脚与第二引脚之间的阻抗，以及基于测量到的阻抗产生指示连接器上存在或不存在外物的检测信号。

相关申请的交叉引用

本申请要求于2017年9月11日在韩国知识产权局提交的韩国专利申请No.10-2017-0115908的权益，该申请的公开以引用方式全文并入本文中。

技术领域

一些示例实施例涉及电子装置，并且更具体地说，涉及用于检测连接器上的外物的电子装置和方法。

背景技术

电子装置可包括连接器并且可经插入连接器中的线缆与外部电子装置通信。当外物进入连接器中时，连接器上的一些引脚可短路、腐蚀或损坏。另外，当通过线缆为电子装置充电时，电流可在连接器上的一些引脚之间流动，导致电子装置的功耗过大，这会导致电子装置的损坏。

发明内容

根据一些示例实施例，提供了一种电子装置，其包括多个引脚和检测电路。检测电路包括上拉电路和下拉电路中的至少一个以及所述多个引脚中的第一引脚与第二引脚之间的连接电路。检测电路被构造为选择第一引脚和第二引脚。检测电路还被构造为通过控制连接电路与上拉电路和下拉电路中的至少一个的连接测量所选择的第一引脚和第二引脚之间的阻抗。此外，检测电路被构造为基于测量出的阻抗产生指示连接器上存在或不存在外物的检测信号。

根据一些示例实施例，提供了一种电子装置，其包括具有多个引脚的连接器和电力输送集成电路(PDIC)。PDIC被构造为产生指示连接器上存在或不存在外物的检测信号。PDIC包括选择电路，其被构造为选择所述多个引脚中的第一引脚和第二引脚。PDIC还包括上拉电路，其被构造为将电源电压提供至连接至第一引脚的第一节点和连接至第二引脚的第二节点。PDIC还包括：下拉电路，其被构造为将地电压提供至第一节点和第二节点；连接电路，其包括第一节点与第二节点之间的电阻器。此外，PDIC包括控制器，其被构造为基于第一节点的第一电压信号和第二节点的第二电压信号产生检测信号。

根据一些示例实施例，提供了一种通过包括控制器的电子装置执行的外物检测方法。所述方法包括以下步骤：选择包括在连接器中的多个引脚中的第一引脚和第二引脚。所述方法还包括：利用控制器测量所选择的第一引脚与第二引脚之间的阻抗。所述方法还包括：基于测量的阻抗产生指示在连接器上存在或不存在外物的检测信号。此外，所述方法包括：根据产生的检测信号提供外物警报消息。

附图说明

附图可不根据比例，并且为了便于示出，可示出夸大或缩小的组件。

图1是示意性地示出根据一些示例实施例的电子装置的框图；

图2示出了根据一些示例实施例的连接器的示例；

图3是根据一些示例实施例的图1的检测电路的详细框图；

图4是示出根据一些示例实施例的检测电路的电路图，在该检测电路中上拉电路和下拉电路中的每一个包括两个电流源、两个电阻器和两个选择器；

图5是示出根据一些示例实施例的图4的检测电路的修改形式的电路图，其中上拉电路和下拉电路中的每一个包括两个电流源；

图6是示出根据一些示例实施例的图4的检测电路的修改形式的电路图，其中上拉电路和下拉电路中的每一个包括两个电阻器；

图7A示出了根据一些示例实施例的测量所选择的第一引脚与所选择的第二引脚之间的阻抗的检测电路的示例，图7B是图7A的等效电路图；