[发明专利]测试线损的方法及装置有效
申请号: | 201810973661.0 | 申请日: | 2018-08-24 |
公开(公告)号: | CN109150242B | 公开(公告)日: | 2021-09-07 |
发明(设计)人: | 吕小磊;李英俊;杜佳男 | 申请(专利权)人: | 北京小米移动软件有限公司 |
主分类号: | H04B3/48 | 分类号: | H04B3/48 |
代理公司: | 北京英创嘉友知识产权代理事务所(普通合伙) 11447 | 代理人: | 曹寒梅 |
地址: | 100085 北京市海淀区清河*** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 测试 方法 装置 | ||
本公开是关于一种测试线损的方法及装置,包括控制射频测试设备发送第一功率信号;通过所述射频测试设备获取第二功率信号的功率值,所述第二功率信号为所述第一功率信号经过参考线和N‑SMA转接头后输出的信号;通过所述射频测试设备获取第三功率信号的功率值,所述第三功率信号为所述第一功率信号经过所述参考线、连接器和测试线后输出的信号;根据所述第二功率信号的功率值和所述第三功率信号的功率值,确定所述测试线在第一频点的线损值,所述第一频点为所述第一功率信号的频点。通过测量得到的功率值得到线损值,根据本公开实施例的测试线损的方法及装置能够提高线损值的精度。
技术领域
本公开涉及通信技术领域,尤其涉及一种测试线损的方法及装置。
背景技术
射频相关产品的研发、测试以及生产都需要用到射频测试设备(例如综合测试仪)对移动终端的射频功能进行测试和调试,在进行测试和调试前需要对射频测试设备和测试线(例如,射频线缆)的线损进行测试和校准补偿才能保证对终端设备的测试和调试的准确。
相关技术中,测试线的线损可以由短线的线损、射频测试设备的下行内损,以及参考发射功率和测试发射功率确定,误差较大。
发明内容
为克服相关技术中存在的问题,本公开提供一种测试线损的方法及装置。
根据本公开实施例的第一方面,提供一种测试线损的方法,包括控制射频测试设备发送第一功率信号;通过所述射频测试设备获取第二功率信号的功率值,所述第二功率信号为所述第一功率信号经过参考线和N-SMA转接头后输出的信号;通过所述射频测试设备获取第三功率信号的功率值,所述第三功率信号为所述第一功率信号经过所述参考线、连接器和测试线后输出的信号,所述连接器为用于连接所述参考线和所述测试线的标准元器件;根据所述第二功率信号的功率值和所述第三功率信号的功率值,确定所述测试线在第一频点的线损值,所述第一频点为所述第一功率信号的频点。
在一种可能的实现方式中,所述根据所述第二功率信号的功率值和所述第三功率信号的功率值,确定所述测试线在所述第一频点的线损值包括:根据N-SMA转接头的插损值与频点的对应关系,确定与所述第一频点对应的第一插损值;根据连接器的插损值与频点的对应关系,确定与所述第一频点对应的第二插损值;根据所述第一插损值、所述第二插损值、所述第二功率信号的功率值和所述第三功率信号的功率值,确定所述测试线在所述第一频点的线损值。
在一种可能的实现方式中,所述方法还包括:通过功率探测设备获取第四功率信号的功率值,所述第四功率信号为所述第一功率信号经过所述参考线和N-N转接头后输出的信号;通过所述射频测试设备获取第五功率信号的功率值,所述第五功率信号为所述第一功率信号经过所述参考线后输出的信号;根据所述第四功率信号的功率值和所述第五功率信号的功率值,确定所述射频测试设备在所述第一频点的下行内损值。
在一种可能的实现方式中,所述方法还包括:通过所述功率探测设备获取第六功率信号的功率值,所述第六功率信号为所述功率探测设备探测到的第一功率信号;根据所述第一功率信号的功率值和所述第六功率信号的功率值,确定所述射频测试设备在所述第一频点的上行内损值。
在一种可能的实现方式中,在通过所述射频测试设备获取第二功率信号的功率值之前,所述方法还包括:根据所述射频测试设备的下行内损值和所述射频测试设备的上行内损值,对所述射频测试设备进行校准。
根据本公开实施例的第二方面,提供一种测试线损的装置,包括控制模块,用于控制射频测试设备发送第一功率信号;第一获取模块,用于通过所述射频测试设备获取第二功率信号的功率值,所述第二功率信号为所述第一功率信号经过参考线和N-SMA转接头后输出的信号;第二获取模块,用于通过所述射频测试设备获取第三功率信号的功率值,所述第三功率信号为所述第一功率信号经过所述参考线、连接器和测试线后输出的信号,所述连接器为用于连接所述参考线和所述测试线的标准元器件;第一确定模块,用于根据所述第二功率信号的功率值和所述第三功率信号的功率值,确定所述测试线在第一频点的线损值,所述第一频点为所述第一功率信号的频点。
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