[发明专利]提升指纹识别率的指纹识别方法及指纹识别芯片

说明书

本发明涉及提升指纹识别率的指纹识别方法及指纹识别芯片。基于指纹匹配标准，对于未能匹配的指纹样本进行全局校验过程，基于指纹匹配次标准，找出匹配指纹模板并将它们拼合成全局指纹模板；基于指纹匹配标准，将指纹样本与全局指纹模板进行比对。本发明增加指纹样本与全局指纹模板的重合面积，提升比对匹配成功率，提升指纹识别率，改善FRR性能和FAR性能，尤其对采用小面积指纹采集传感器的指纹识别芯片，提升指纹识别解锁的体验效果。

技术领域

本发明涉及数据处理方法即实现该方法的装置，特别是涉及指纹识别数据的处理方法及指纹识别装置。

背景技术

现有技术指纹识别方法通常将指纹采集传感器采集的指纹样本与指纹识别芯片内存储的指纹模板进行遍历比对，如果找到与指纹样本匹配的指纹模板，指纹比对匹配，指纹识别成功；如果没有找到与指纹样本匹配的指纹模板，指纹比对不匹配，指纹识别失败。影响指纹识别率的相关因素之一是指纹样本与指纹模板的重合面积。一般情况下，当采集的指纹样本与指纹模板的重合面积较大时，例如两者重合面积达到5000像素以上，指纹识别率较高；反之，当采集的指纹样本与指纹模板重合面积较小时，例如两者的重合面积在2000像素以下，指纹识别率会下降。

现有技术指纹采集传感器的指纹采集面积有逐步变小的趋势，容易造成采集的指纹样本与指纹模板的平均重合面积相应变小的情况。在此情况下，现有技术仅用指纹模板与指纹样本比对的指纹识别方法将造成指纹识别解锁的体验效果不佳，简称FRR性能的指纹识别拒真率False Reject Rate性能和简称FAR性能的指纹识别认假率False AcceptRate性能都有所下降。

发明内容

本发明要解决的技术问题在于避免现有技术的不足之处而提出一种对指纹比对不匹配的指纹样本增加全局校验过程的指纹识别方法，以及使用该方法的指纹识别芯片，从而达到提升指纹识别性能的目的。所述方法将因重合面积小而疑似匹配的指纹模板构建成全局指纹模板，通过指纹样本与全局指纹模板的二次校验完善指纹匹配过程，增加指纹匹配的可能性，在重合面积较小的情况下确保指纹匹配的成功率，从而提升指纹识别率。

本发明解决所述技术问题可以通过采用以下技术方案来实现：

提出一种提升指纹识别率的指纹识别方法，基于指纹识别芯片，该指纹识别芯片设置有指纹采集传感器。指纹识别芯片内存储有一个以上经过预处理的指纹模板，指纹采集传感器采集的指纹信息经过指纹识别芯片预处理形成指纹样本。所述方法包括如下指纹识别过程：

基于指纹匹配标准，将指纹样本分别与各指纹模板进行比对；

如果指纹样本与一指纹模板匹配，返回指纹匹配成功结果，完成指纹识别过程；

如果没有指纹模板与指纹样本匹配，进行如下的全局校验过程，

设置一低于指纹匹配标准的指纹匹配次标准；

基于指纹匹配次标准，将指纹样本分别与指纹模板进行比对；

如果有一个以下的指纹模板与指纹样本匹配，返回指纹匹配不成功结果，完成指纹识别过程；

如果找到至少两指纹模板与指纹样本匹配，分别记录与指纹样本匹配的指纹模板部分为匹配指纹模板，

将各匹配指纹模板合并成全局指纹模板；

基于指纹匹配标准，将指纹样本与全局指纹模板比对；

如果指纹样本与全局指纹模板匹配，返回指纹匹配成功结果，完成指纹识别过程；

如果指纹样本与全局指纹模板不匹配，返回指纹匹配不成功结果，完成指纹识别过程。

具体地，将各匹配指纹模板合并成全局指纹模板包括如下合并过程：

如果各匹配指纹模板互不重合，直接将各匹配指纹模板拼合成全局指纹模板；