[发明专利]一种可靠性测试方法及装置

说明书

本申请公开了一种可靠性测试方法，该方法包括：在目标设备发生掉电之前，每次写入目标数据时，同时向第一存储器与第二存储器中顺序写入所述目标数据，其中，所述第二存储器是经测试后不会因掉电发生数据丢失的存储器；当所述目标设备发生掉电并重启后，对比所述第一存储器与所述第二存储器中的数据信息，根据对比结果，确定所述第一存储器是否发生数据丢失。该可靠性测试方法能够提高内存可靠性测试结果的准确性。

技术领域

本申请涉及计算机技术领域，尤其涉及一种可靠性测试方法及装置。

背景技术

计算机系统的计算结果和服务信息皆临时保存在内存中，这些数据在系统掉电后可能会丢失，如果数据丢失，可能会引起整个系统的崩溃。

因此，当系统发生掉电并重启后，需要对内存存储的数据是否丢失进行测试，从而验证内存的可靠性，进而确保系统能够正常运行。然而，现有的可靠性测试方法，对内存可靠性的测试结果的准确性并不高。

发明内容

本申请实施例的主要目的在于提供一种可靠性测试方法及装置，能够提高内存可靠性测试结果的准确性。

本申请实施例提供的一种可靠性测试方法，包括：

在目标设备发生掉电之前，每次写入目标数据时，同时向所述目标设备的第一存储器与第二存储器中顺序写入所述目标数据，其中，所述第二存储器是经测试后不会因掉电发生数据丢失的存储器；

当所述目标设备发生掉电并重启后，对比所述第一存储器与所述第二存储器中的数据信息，根据对比结果，确定所述第一存储器是否发生数据丢失。

可选的，所述对比所述第一存储器与所述第二存储器中的数据信息，根据对比结果，确定所述第一存储器是否发生数据丢失，包括：

在所述第一存储器与所述第二存储器的存储数据中，分别读取最后一次被写入存储单元中的数据；

若读取的两个数据不同，则确定所述第一存储器丢失了数据；

若读取的两个数据相同，则当确定所述第一存储器在掉电前被写满数据的情况下，检测所述第一存储器是否被写满；

若所述第一存储器被写满，则确定所述第一存储器未丢失数据；

若所述第一存储器未被写满，则确定所述第一存储器丢失了数据。

可选的，所述第一存储器的存储空间大于所述第二存储器的存储空间；每次写入所述目标数据时均对应一组标志位，其中，所述一组标志位包括数据序号、第一写入循环次数、第二写入循环次数，所述数据序号表示所述目标数据在所述第一存储器内的存储位置，所述第一写入循环次数表示所述第一存储器所完成的已写满轮数，所述第二写入循环次数表示所述第一存储器在当前轮被写入所述目标数据时、所述第二存储器在所述当前轮所完成的已写满轮数；

则，所述分别读取最后一次被写入存储单元中的数据，包括：

根据所述一组标志位，从所述第一存储器与所述第二存储器中找到并读取最后一次被写入存储单元中的数据。

可选的，所述目标数据对应一个固定的数据标志位，所述目标数据与所述数据标志位共同被写入所述第一存储器的一个存储单元；所述检测所述第一存储器是否被写满，包括：

统计所述第一存储器中存储的所述数据标志位的数量；

判断所述第一存储器的存储单元总数与所述数据标志位的统计总数是否相同；

若是，则确定所述第一存储器被写满；

若否，则确定所述第一存储器未被写满。

可选的，所述第一存储器为NVDIMM，所述第二存储器为NVRAM。