[发明专利]微波表面电阻连续频谱测试装置有效
| 申请号： | 201810982741.2 | 申请日： | 2018-08-27 |
| 公开（公告）号： | CN109239457B | 公开（公告）日： | 2021-04-23 |
| 发明（设计）人： | 曾成;陈柳;宁俊松;葛强;补世荣;王占平 | 申请（专利权）人： | 电子科技大学 |
| 主分类号： | G01R23/16 | 分类号： | G01R23/16;G01R27/02 |
| 代理公司： | 成都行之专利代理事务所(普通合伙) 51220 | 代理人： | 李朝虎 |
| 地址： | 610000 四川省成*** | 国省代码： | 四川;51 |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 微波 表面电阻 连续 频谱 测试 装置 | ||
1.微波表面电阻连续频谱测试装置，其特征在于，包括固定介质柱(25)和移动介质柱(26)；所述固定介质柱(25)设置于待测超导薄膜(22)上，且移动介质柱(26)连续运动并与固定介质柱(25)产生相对位移，使得移动介质柱(26)和固定介质柱(25)之间电磁场变化；
所述移动介质柱(26)与固定介质柱(25)之间的相对位移为缩小或增大移动介质柱(26)与固定介质柱(25)之间的距离；
还包括支撑环(27)和滑动活塞(19)；所述支撑环(27)上设置固定介质柱(25)；所述支撑环(27)上设置与滑动活塞(19)匹配的滑槽，且滑动活塞(19)在所述滑槽内运动；所述固定介质柱(25)设置于所述滑槽的底部，且滑动活塞(19)朝向固定介质柱(25)的面上设置移动介质柱(26)。
2.根据权利要求1所述的微波表面电阻连续频谱测试装置，其特征在于，还包括屏蔽腔(20)、主腔(21)、固定板(23)和密封盖(24)；所述主腔(21)设置于屏蔽腔(20)内；所述支撑环(27)设置于主腔(21)内；所述密封盖(24)设置于主腔(21)底部，且密封盖(24)内设置用于安装待测超导薄膜(22)的固定板(23)。
3.根据权利要求2所述的微波表面电阻连续频谱测试装置，其特征在于，还包括校准座(28)，所述校准座(28)设置于屏蔽腔(20)底部。
4.根据权利要求1所述的微波表面电阻连续频谱测试装置，其特征在于，所述固定介质柱(25)和移动介质柱(26)采用低损耗、高介电常数、高Q值材料，工作模式采用TE0m(n+δ)；其中，m,n＝1,2,3……；0δ1。
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