[发明专利]反应堆控制棒测量数据获得方法及微分价值获取方法

说明书

本发明公开了一种反应堆控制棒测量数据获得方法及微分价值获取方法，所述数据获得方法中，通过逐步下插被测控制棒，向堆内注入脉冲中子，分析中子探测器采集到的数据得到泄漏中子衰减曲线，所述微分价值获取方法中，通过所述泄漏中子衰减曲线得到控制棒的微分价值，实现了在次临界状态下控制棒的微分价值测量。以上过程中，不需要频繁倒棒，操作简便安全，缩短了测量时间，提高了效率，避免了传统控制棒微分价值测量在临界状态频繁倒棒，耗时费力的缺点，即避免了测量过程中的不利影响因素也有利于核系统安全，有利于提高测量结果的准确度。

技术领域

本发明涉及反应堆零功率物理实验测量技术领域，特别是涉及一种反应堆控制棒测量数据获得方法及微分价值获取方法。

背景技术

在零功率物理实验研究中，控制棒微分价值测量一般采用周期法进行。测量时反应堆处于临界状态，并且需要稳定在一定的功率水平，待测控制棒逐级往上提升，周围控制棒进行补偿。同时，考虑到反应堆周期运行限值的要求，每次引入的反应性在100pcm左右，一组大当量反应性的控制棒通常需要进行几十甚至上百个点的测量，每个测量点都在临界状态下进行稳功率、倒棒操作，操纵员除了关注反应堆上的周期、功率、棒位等参数外，还需及时与测量人员进行交流，并按测量要求进行切换棒，精神时刻保持在一种高度专注试验状态中，对反应堆的安全运行是一种不利因素。

发明内容

针对上述提出的现有技术中控制棒微分价值测量中存在的程序繁琐、需要控制的参数多等问题，本发明提供了一种反应堆控制棒测量数据获得方法及微分价值获取方法，采用该数据获得方法，相较于现有技术不仅简化了程序，缩短测量时间，同时可提高反应堆操作的安全性；该微分价值获取方法基于上述数据获得方法，在相较于现有技术不仅可简化程序、缩短测量时间、利于操作反应堆的安全性，同时可减少测量过程中的不利影响因素，提高测量精度。

为达到上述目的，本发明提供的反应堆控制棒测量数据获得方法及微分价值获取方法通过以下技术要点来解决问题：反应堆控制棒测量数据获得方法，该测量数据获得方法用于获得用于反应堆控制棒微分价值获取的原始数据，所述测量数据获得方法包括控制棒微分价值刻度步骤及数据获得步骤：

所述控制棒微分价值刻度步骤为：在待测控制棒上确定N个测点，沿着待测控制棒的高度方向，N个测点依次为1、2...N，N个测点对应N个棒位：依次为1棒位、2棒位...N棒位，各测点依次所对应的棒位棒高为：h₁、h₂...h_N；所述数据获得步骤为：

将待测控制棒提升至顶，其他控制棒调临界，所述其他控制棒调临界为：利用其它控制棒，调节反应堆为临界状态；

利用对称布置在堆芯的脉冲中子发生器和中子探测器，将脉冲中子发生器的输入频率调节至全部瞬发中子衰减完毕，缓发中子进入本底水平，所述对称布置为脉冲中子发生器和中子探测器两者相对于反应堆的轴线轴对称；

下插待测控制棒至i棒位，调节脉冲中子发生器的靶压向堆芯注入脉冲中子，在堆芯的另一侧用中子探测器测量堆芯泄漏中子，所述1≤i≤N,所述i、N均为大于0的整数；

根据中子探测器在待测控制棒下插至各棒位时所获得的测量值，得到泄漏中子衰减曲线。

现有技术中，针对控制棒微分价值测量，除了上述所提及需要针对几十甚至上百个点进行测量，同时针对每个测量点都需要在临界状态下进行稳功率、倒棒操作，存在程序繁琐、所需要控制的参数多等问题。除此以外，传统测量方法在进行微分价值测量过程中，由于每个测量步长都需进行调临界和升功率，频繁的倒棒可改变待测控制棒周围的中子注量率分布，从而影响待测控制棒各个点微分价值，对测量结果产生不利影响。