[发明专利]一种全光纤干涉仪自由光谱范围测量系统及方法在审
申请号: | 201810985909.5 | 申请日: | 2018-08-28 |
公开(公告)号: | CN108955888A | 公开(公告)日: | 2018-12-07 |
发明(设计)人: | 叶全意;高英杰;王徐啸 | 申请(专利权)人: | 金陵科技学院 |
主分类号: | G01J3/45 | 分类号: | G01J3/45 |
代理公司: | 南京钟山专利代理有限公司 32252 | 代理人: | 戴朝荣 |
地址: | 211169 江*** | 国省代码: | 江苏;32 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 自由光谱 范围测量 微波信号 全光纤 矢量网络分析仪 全光纤干涉仪 干涉 测量信号发生器 光电探测器输出 参数观察 参数特性 梳状频谱 等间隔 减小 转换 | ||
1.一种全光纤干涉仪自由光谱范围测量系统,其特征在于:包含分布式反馈激光器、电光相位调制器、全光纤Mach-Zehnder干涉仪、光电探测器、功分器、信号发生器和矢量网络分析仪,电光相位调制器与分布式反馈激光器光连接,全光纤Mach-Zehnder干涉仪与电光相位调制器光连接,光电探测器与全光纤Mach-Zehnder干涉仪光连接,功分器分别与信号发生器、电光相位调制器和矢量网络分析仪电连接,矢量网络分析仪与光电探测器电连接。
2.按照权利要求1所述的一种全光纤干涉仪自由光谱范围测量系统,其特征在于:所述分布式反馈激光器输出激光,信号发生器产生微波信号,微波信号经过电光相位调制器调制到分布式反馈激光器的输出的光载波上,再导入全光纤Mach-Zehnder干涉仪,全光纤Mach-Zehnder干涉仪输出光经光电探测器转换为微波信号,微波信号与信号发生器输出的微波信号输入矢量网络分析仪。
3.按照权利要求1所述的一种全光纤干涉仪自由光谱范围测量系统,其特征在于:所述分布式反馈激光器输出1550nm激光,分布式反馈激光器功率为10dBm。
4.按照权利要求1所述的一种全光纤干涉仪自由光谱范围测量系统,其特征在于:所述信号发生器产生的微波信号频率为10GHz。
5.一种全光纤干涉仪自由光谱范围测量系统的测量方法,其特征在于包含以下步骤:
步骤一:分布式反馈激光器输出1550nm激光,分布式反馈激光器的功率为10dBm;
步骤二:信号发生器产生10GHz的微波信号;
步骤三:通过相位调制器调制后,将10GHz的微波信号调制到1550nm光载波上,并导入全光纤Mach-Zehnder干涉仪;
步骤四:全光纤Mach-Zehnder干涉仪输出光输入光电探测器;
步骤五:用矢量网络分析仪分析仪测出信号发生器产生的10GHz的微波信号和光电探测器输出的微波信号的S21参数特性曲线;
步骤六:S21参数的单个等间隔梳状频谱范围即为全光纤Mach-Zehnder干涉仪的自由光谱范围。
6.按照权利要求5所述的全光纤干涉仪自由光谱范围测量系统的测量方法,其特征在于:所述步骤一中,连续增大或者减小信号发生器输出微波信号的频率和功率,选择合适的微波频率和功率,便于观察矢量网络分析仪S21参数。
7.按照权利要求5所述的全光纤干涉仪自由光谱范围测量系统的测量方法,其特征在于:所述步骤五,多次重复用矢量网络分析仪分析仪测出信号发生器产生的10GHz的微波信号和光电探测器输出的微波信号的S21参数特性曲线,然后求其平均值。
8.按照权利要求5所述的全光纤干涉仪自由光谱范围测量系统的测量方法,其特征在于:所述步骤六中,测量多个等间隔梳状频谱,求平均值,以提高测量全光纤Mach-Zehnder干涉仪自由光谱范围的测量精度。
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