[发明专利]支柱绝缘子孔泡检测方法及装置、终端、存储介质有效
申请号: | 201810986029.X | 申请日: | 2018-08-28 |
公开(公告)号: | CN109187419B | 公开(公告)日: | 2021-04-06 |
发明(设计)人: | 梅红伟;管兮远;王黎明 | 申请(专利权)人: | 清华大学深圳研究生院 |
主分类号: | G01N21/3586 | 分类号: | G01N21/3586 |
代理公司: | 深圳市鼎言知识产权代理有限公司 44311 | 代理人: | 曾昭毅;郑海威 |
地址: | 518055 广东*** | 国省代码: | 广东;44 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 支柱 绝缘子 检测 方法 装置 终端 存储 介质 | ||
1.一种支柱绝缘子孔泡检测方法,其特征在于,所述方法包括:
步骤1,在支柱绝缘子上沿轴线方向选取若干个位置,并在支柱绝缘子对应的每一位置处与轴线相交的截平面圆周上每隔预设角度获得一个透射点,采用太赫兹波测量所述透射点的透射波形;
步骤2,检测每一所述透射点的功率谱密度谱;
步骤3,当太赫兹波在所述透射点径向入射时,根据光速与所述功率谱密度谱的频率之间的比值获取每一所述透射点的第一平均孔径,并根据每一截平面上测得的若干所述第一平均孔径获取所述支柱绝缘子在截平面上的孔径标准差;
步骤4,获取对应截平面上的若干所述第一平均孔径的平均值作为第二平均孔径,并根据若干个所述第二平均孔径获取支柱绝缘子沿轴线方向的孔径标准差;
步骤5,根据所述第一平均孔径、所述支柱绝缘子在截平面的孔径标准差以及所述支柱绝缘子沿轴线方向的孔径标准差,评估所述支柱绝缘子孔泡状态。
2.根据权利要求1所述的支柱绝缘子孔泡检测方法,其特征在于,所述截平面与所述轴线垂直,所述预设角度包括45度。
3.根据权利要求1所述的支柱绝缘子孔泡检测方法,其特征在于,所述评估所述支柱绝缘子孔泡状态包括:
若所述第一平均孔径小于第一预设值,则所述支柱绝缘子在所述透射点处的孔泡不均匀。
4.根据权利要求1所述的支柱绝缘子孔泡检测方法,其特征在于,所述评估所述支柱绝缘子孔泡还包括:
若所述支柱绝缘子在截平面的孔径标准差大于第二预设值,则所述支柱绝缘子截平面上的孔泡分布不均匀。
5.根据权利要求1所述的支柱绝缘子孔泡检测方法,其特征在于,所述评估所述支柱绝缘子孔泡还包括:
若所述支柱绝缘子沿轴线方向的孔径标准差大于第三预设值,则所述支柱绝缘子轴向的孔泡分布不均匀。
6.一种支柱绝缘子孔泡检测装置,其特征在于,所述支柱绝缘子孔泡检测装置包括:
透射波形测量模块,用于在支柱绝缘子上沿轴线方向选取若干个位置,并在支柱绝缘子对应的每一位置处与轴线相交的截平面圆周上每隔预设角度获得一个透射点,采用太赫兹波测量所述透射点的透射波形;
功率谱密度谱获取模块,用于检测每一所述透射点的功率谱密度谱;
第一孔径获取模块,用于当太赫兹波在所述透射点径向入射时,根据光速与所述功率谱密度谱的频率之间的比值获取每一所述透射点的第一平均孔径,并根据每一截平面上测得的若干所述第一平均孔径获取所述支柱绝缘子在截平面上的孔径标准差;
第二孔径获取模块,用于获取对应截平面上的若干所述第一平均孔径的平均值作为第二平均孔径,并根据若干个所述第二平均孔径获取支柱绝缘子沿轴线方向的孔径标准差;
孔泡检测模块,用于根据所述第一平均孔径、所述支柱绝缘子在截平面的孔径标准差以及所述支柱绝缘子沿轴线方向的孔径标准差,评估所述支柱绝缘子孔泡状态。
7.一种终端装置,其特征在于,所述终端装置包括处理器,所述处理器用于执行存储器中存储的计算机程序时实现如权利要求1-5任意一项所述的支柱绝缘子孔泡检测方法的步骤。
8.一种计算机可读存储介质,其上存储有计算机程序,其特征在于,所述计算机程序被处理器执行时实现如权利要求1-5任意一项所述的支柱绝缘子孔泡检测方法的步骤。
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