[发明专利]一种基于边缘检测的睫毛去除方法及系统

权利要求书

1.一种基于边缘检测的睫毛去除方法，其特征在于，包括如下步骤：

获取眼部图片，在所述眼部图片中划分出感兴趣区域；

对所述感兴趣区域进行增强处理，得到增强图像；

对所述增强图像进行平滑处理，得到平滑图像；

采用Sobel边缘检测算子对所述平滑图像进行边缘检测，得到二值图像；

对所述二值图像进行膨胀处理，得到掩膜图像；

对所述平滑图像中与所述掩膜图像中像素值为1的区域所对应的区域进行以向量为算子的边缘检测，并令所述平滑图像中与所述掩膜图像中像素值为0的区域所对应的区域的像素值为0，得到掩膜边缘检测图像；

对所述掩膜边缘检测图像进行二值化处理，得到睫毛图像；

根据所述睫毛图像，在所述感兴趣区域中，使用选定的像素值替换掉睫毛像素值；其中，

对二值图像中的睫毛进行膨胀处理，得到掩膜图像，具体包括如下步骤：

-对二值图像中的睫毛进行膨胀处理，得到膨胀区域；

-判断膨胀区域是否为覆盖所有睫毛的连通域，若是，则令膨胀区域的像素值为1，其他区域的像素值为0，得到掩膜图像；若否，则再次膨胀处理，直至膨胀区域为覆盖所有睫毛的连通域，然后令膨胀区域的像素值为1，其他区域的像素值为0，得到掩膜图像；

以向量为算子的边缘检测包括如下步骤：

-在所述平滑图像中，对与所述掩膜图像中像素值为1的区域相对应的区域进行两次边缘检测，分别得到一张边缘检测初始图像；

-将两张所述边缘检测初始图像对应位置的像素点的像素值相加，若相加后的像素值大于255，则令该像素点的像素值为255，得到以向量为算子的边缘检测最终图像。

2.如权利要求1所述的基于边缘检测的睫毛去除方法，其特征在于：所述选定的像素值为所述感兴趣区域中的虹膜区域的平均像素值，或，

在所述感兴趣区域中，依次以与所述睫毛图像中的睫毛像素点相对应的睫毛像素点为中心，划定方形区域，且该方形区域内存在非睫毛像素点，所述选定的像素值为该方形区域内最大的非睫毛像素值。

3.如权利要求1所述的基于边缘检测的睫毛去除方法，其特征在于，使用选定的像素值替换掉睫毛像素值包括如下步骤：

在所述感兴趣区域中，依次以与所述睫毛图像中的睫毛像素点相对应的睫毛像素点为中心，划定方形区域；

判断所述方形区域内的所有像素点的类型，若所述方形区域内的所有像素点均为睫毛像素点，则用所述感兴趣区域中的虹膜区域的平均像素值替代所述方形区域内所有的睫毛像素值。

4.如权利要求1所述的基于边缘检测的睫毛去除方法，其特征在于，使用选定的像素值替换掉睫毛像素值包括如下步骤：

在所述感兴趣区域中，依次以与所述睫毛图像中的睫毛像素点相对应的睫毛像素点为中心，划定方形区域；

判断所述方形区域内的所有像素点的类型，若所述方形区域内还存在非睫毛像素点，则用所述方形区域内最大的非睫毛像素值替代该方形区域内所有的睫毛像素值。

5.如权利要求1所述的基于边缘检测的睫毛去除方法，其特征在于：

两次边缘检测算子分别为[1,1,2,-3,-3,1,1]和[1,1,0,-3,-3,0,1]’。

6.如权利要求1所述的基于边缘检测的睫毛去除方法，其特征在于：在对所述平滑图像进行边缘检测之后、获得所述二值图像之前，还包括虹膜纹理除噪步骤。

7.如权利要求6所述的基于边缘检测的睫毛去除方法，其特征在于，所述虹膜纹理除噪包括如下步骤：

从所述平滑图像进行边缘检测后的图像中获取像素值为1的八连通区域；

预设长轴长阈值和短轴长阈值；

若所述八连通区域的长轴长小于所述长轴长阈值，且所述八连通区域的短轴长小于所述短轴长阈值，则将该八连通区域作为噪声去除，否则，保留该八连通区域。

8.如权利要求1所述的基于边缘检测的睫毛去除方法，其特征在于：在使用选定的像素值替换掉睫毛像素值之后，还包括均值滤波处理步骤。