[发明专利]一种Sb70Se30/Si多层复合相变薄膜及其制备方法和应用在审
申请号: | 201810987180.5 | 申请日: | 2018-08-28 |
公开(公告)号: | CN109166965A | 公开(公告)日: | 2019-01-08 |
发明(设计)人: | 张丹;胡益丰;卢雅琳;朱小芹;孙月梅;邹华 | 申请(专利权)人: | 江苏理工学院 |
主分类号: | H01L45/00 | 分类号: | H01L45/00 |
代理公司: | 常州佰业腾飞专利代理事务所(普通合伙) 32231 | 代理人: | 高姗 |
地址: | 213001 江*** | 国省代码: | 江苏;32 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 薄膜 单层 多层复合 相变薄膜 制备方法和应用 晶化 复合薄膜材料 相变薄膜材料 多层膜结构 微电子材料 相变存储器 薄膜材料 复合相变 交替堆叠 交替溅射 纳米量级 传统的 激活能 沉积 存储 复合 | ||
1.一种Sb70Se30/Si多层复合相变薄膜,其特征在于,所述Sb70Se30/Si多层复合相变薄膜中单层Sb70Se30薄膜和单层Si薄膜交替堆叠排列成多层膜结构。
2.根据权利要求1所述的Sb70Se30/Si多层复合相变薄膜,其特征在于,单层Sb70Se30薄膜的厚度范围为1~10nm,单层Si薄膜的厚度范围为1~10nm,所述Sb70Se30/Si复合相变薄膜总厚度为50~60nm。
3.根据权利要求1所述的Sb70Se30/Si多层复合相变薄膜,其特征在于,所述Sb70Se30/Si复合相变薄膜结构符合下列通式:[(Sb70Se30)(a)/(Si)(b)]n,式中a、b分别表示所述的单层Sb70Se30薄膜和单层Si薄膜的厚度,n表示单层Sb70Se30和单层Si薄膜的交替周期数或者交替层数,且n为正整数;相变薄膜的总厚度可由n与所述单层Sb70Se30和单层Si薄膜的厚度计算所得,即(a+b)*n(nm)。
4.一种制备权利要求1、2或3所述的Sb70Se30/Si多层复合相变薄膜的方法,其特征在于,所述的Sb70Se30/Si复合相变薄膜采用磁控溅射方法制备,衬底为SiO2/Si(100)基片,溅射靶材为Sb70Se30和Si,溅射气体为高纯Ar气。
5.根据权利要求4所述的制备Sb70Se30/Si多层复合相变薄膜的方法,其特征在于,包括以下步骤:
1)将基片洗净烘干待用;
2)在磁控溅射镀膜系统中,将步骤1)洗净的基片放置在基托上,将Sb70Se30和Si合金靶材作为溅射靶材分别安装在磁控射频溅射靶中,并将磁控溅射镀膜系统的溅射腔室抽真空;
3)抽真空后向室内通入高纯氩气;
4)开启射频电源,设定Sb70Se30合金靶的溅射功率和Si靶的射频溅射功率;
5)磁控溅射制备[(Sb70Se30)(a)/(Si)(b)]n多层复合薄膜:
a)首先通过预溅射清洁Sb70Se30靶材和Si靶材表面;
b)清洁完毕后,将待溅射的基片旋转到Sb70Se30靶位,依照设定的溅射时间,溅射Sb70Se30薄膜,溅射结束后得到Sb70Se30薄膜层;
c)将已经溅射了Sb70Se30薄膜层的基片旋转到Si靶位,依照设定的溅射时间,溅射Sb70Se30薄膜,溅射结束后得到Si薄膜层;
d)重复b)和c)两步操作n-1次,即得到[(Sb70Se30)(a)/(Si)(b)]n复合相变薄膜材料。
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