[发明专利]鉴别掺白油有机硅产品的光谱分析方法

权利要求书

1.鉴别掺白油有机硅产品的光谱分析方法，其特征在于，包括以下步骤:

A.选取校正集并收集校正集样品

选择2种或2种以上的复配样品作为校正集样品；收集校正集样品的傅立叶变换近红外光谱图；

B.建模

选择光谱范围为4000cm^-1～10000cm^-1，使用化学计量算法、滤噪平滑法或多点基线校正方法对校正集中所有的傅立叶变换近红外光谱图进行运算，得到这个类别的平均光谱和标准偏差光谱；

将所得的平均光谱和标准偏差光谱标记为聚类模型：∪_α；

C.判定

对未知样品进行近红外扫描，通过傅里叶变换计算得到未知样品的傅立叶变换近红外光谱图；使用距离匹配的方法对步骤B中聚类模型∪_α进行计算，得到马氏距离D_α，使用统计计量方法确定极限匹配值D_max；

若D_α＜D_max时,则判定为：通过，即添加白油。

2.如权利要求1所述的鉴别掺白油有机硅产品的光谱分析方法,其特征在于:在所述步骤A中，复配样品为所要鉴别的白油与有机硅产品的复配样品；傅立叶近红外光谱图应由傅立叶变化近红外光谱仪测得。

3.如权利要求1所述的鉴别掺白油有机硅产品的光谱分析方法,其特征在于:在所述步骤A中，收集校正集样品的近红外光谱时，每一个样品的扫描次数不小于16次，分辨率选择为4cm^-1、8cm^-1或16cm^-1。

4.如权利要求1所述的鉴别掺白油有机硅产品的光谱分析方法,其特征在于:在所述步骤B中，化学计量算法为原光谱和一阶求导；滤噪平滑法为不处理、Savitzky-Golay filter方法或Norris derivative filter方法；多点基线校正方法为不校正、分段线性校正或样条校正。

5.如权利要求1所述的鉴别掺白油有机硅产品的光谱分析方法,其特征在于:在所述步骤C中，所使用的距离匹配的方法是使用未知样品的光谱通过化学计量算法、滤噪平滑法或多点基线校正方法处理后，与聚类模型∪_α中的平均光谱和标准偏差光谱比较。

6.如权利要求1所述的鉴别掺白油有机硅产品的光谱分析方法,其特征在于:所述步骤C中，所得到的马氏距离D_α是由未知样品光谱与聚类模型∪_α的平均光谱相减得到的残差光谱与聚类模型∪α的标准偏差光谱相除得到的差异点所占的权重。

7.如权利要求1所述的鉴别掺白油有机硅产品的光谱分析方法,其特征在于:在所述步骤C中，统计计量方法为正态分布方差已知给定均值和定值的比较。

8.如权利要求1所述的鉴别掺白油有机硅产品的光谱分析方法,其特征在于:在所述步骤A中，液体样品采用透射法测定近红外光谱；固体样品采用积分球测定近红外光谱。