[发明专利]测绘用角度测量光学片在审
申请号: | 201810989579.7 | 申请日: | 2018-08-28 |
公开(公告)号: | CN108873122A | 公开(公告)日: | 2018-11-23 |
发明(设计)人: | 吴光明 | 申请(专利权)人: | 四川川豫测绘服务有限公司 |
主分类号: | G02B3/00 | 分类号: | G02B3/00;G02B17/08;G02B1/00 |
代理公司: | 暂无信息 | 代理人: | 暂无信息 |
地址: | 618000 四川省德阳市*** | 国省代码: | 四川;51 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 球形凸起 平坦段 透镜 角度测量 直线距离 光学片 测绘 距离相等 相等 测量 | ||
本发明公开了一种测绘用角度测量光学片,包括基体(1),基体(1)上方设置有上透镜(2),下方设置有下透镜(3),上透镜(2)由上球形凸起段(4)和上平坦段(7)交替组成,上球形凸起段(4)的半径为R1,上球形凸起段(4)两端点之间的直线距离为d,上平坦段(7)两端点之间的距离为d1;下透镜(3)由下球形凸起段(5)和下平坦段(8)交替组成,下球形凸起段(5)的半径为Rm,下球形凸起段(5)两端点之间的直线距离与上球形凸起段(4)两端点之间的直线距离相等,下平坦段(8)两端点之间的距离与上平坦段(7)两端点之间的距离相等。与现有的相比,本发明使得测量角度不需要接触就可以进行角度测量。
技术领域
本发明涉及一种测绘用角度测量光学片。
背景技术
在测绘中,经常需要进行角度测量,但是,现有的角度测量装置基本上都是采用接触式的测量方式,这样的测量方式一方面测量精度差,另一方面,对于空间小或空间特别大的测量场合,测量起来非常不方便。
发明内容
针对上述不足之处,本发明的目的就在于提供一种测绘用角度测量光学片,该测绘用角度测量光学片使得测量角度不需要接触就可以进行角度测量。
本发明的技术方案是:一种测绘用角度测量光学片,包括基体(1),基体(1)上方设置有上透镜(2),下方设置有下透镜(3),上透镜(2)由上球形凸起段(4)和上平坦段(7)交替组成,上球形凸起段(4)的半径为R1,上球形凸起段(4)两端点之间的直线距离为d,上平坦段(7)两端点之间的距离为d1;下透镜(3)由下球形凸起段(5)和下平坦段(8)交替组成,下球形凸起段(5)的半径为Rm,下球形凸起段(5)两端点之间的直线距离与上球形凸起段(4)两端点之间的直线距离相等,下平坦段(8)两端点之间的距离与上平坦段(7)两端点之间的距离相等;下球形凸起段(5)表面上涂覆有反射图层(6);上球形凸起段(4)与下球形凸起段(5)具有同一圆心(9),并具有同一中心线(10)。
作为优选,所述d:d1的比值为8:1~20:1。
作为优选,所述上透镜(2)、基体(1)、下透镜(3)一体成型。
作为优选,所述上透镜(2)、基体(1)、下透镜(3)均由光学透明材料制成。
作为优选,所述光学透明材料为光学玻璃。
作为优选,所述光学玻璃为钡火石光学玻璃。
作为优选,所述光学玻璃为防辐照光学玻璃。
作为优选,所述测绘用角度测量光学片厚度为100-200微米。
与现有技术相比,本发明的有益效果在于:本发明通过设置基体,基体上方设置上透镜,下方设置有下透镜,以及交替的上球形凸起段、上平坦段、下球形凸起段、下平坦段、反射图层,使得β</=βmax光线逆向通过上透镜,从而实现角度测量,使得不需要人工接触被检测物体即可以完成测量事宜。
附图说明
为了更清楚地说明本发明实施例的技术方案,下面将对实施例中所需要使用的附图作简单地介绍,应当理解,以下附图仅示出了本发明的某些实施例,因此不应被看作是对范围的限定,对于本领域普通技术人员来讲,在不付出创造性劳动的前提下,还可以根据这些附图获得其他相关的附图。
图1为本发明整体结构示意图;
图2为本发明测角度原理图示意图;
图3本发明逆向光强度与β之间的关系图。
具体实施方式
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