[发明专利]一种光纤陀螺用光路性能测试系统有效

专利信息
申请号: 201810996752.6 申请日: 2018-08-29
公开(公告)号: CN109059962B 公开(公告)日: 2020-10-20
发明(设计)人: 许保祥;于海成;张志永;王利超;冯文帅;李德桥;吴旭东 申请(专利权)人: 北京航天时代光电科技有限公司
主分类号: G01C25/00 分类号: G01C25/00
代理公司: 中国航天科技专利中心 11009 代理人: 范晓毅
地址: 100094*** 国省代码: 北京;11
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摘要:
搜索关键词: 一种 光纤 陀螺 用光 性能 测试 系统
【说明书】:

一种光纤陀螺用光路性能测试系统,包括光源输出驱动模块(1)、光源输出模块(2)、光功率测试模块(3)、干涉仪光路损耗测试模块(4)、探测器电压检测模块(5)和数据处理显示模块(6);该系统能够实现光源输出光功率、耦合器或Y波导或光纤环或干涉仪连接损耗、光路总损耗测试,操作简单,精度高,结果自动显示,方便检测光纤熔接过程损耗。

技术领域

发明涉及一种光纤陀螺用光路性能测试系统,属于光纤惯导技术领域。

背景技术

光纤陀螺仪作为一种新型惯性仪表,由于其精度、功耗、质量等方面的优势,已广泛应用于导弹、飞机、舰船和车辆等领域。

随着光纤陀螺广泛应用,光纤陀螺的数量、种类也越来越多。目前越来越多的陀螺进入量产阶段,由于光纤清理、切割不当、或者熔接误差、光纤不匹配等,光纤陀螺装配后常出现光路损耗超差问题,影响光纤陀螺精度性能,需要进行返工处理,影响生产效率,且返修时操作不当还可导致光纤损伤、甚至断裂,影响产品可靠性。为保证可靠性需要对光路熔接过程中的关键熔接环节的损耗进行测试。关键熔接环节包括光源输出光功率、干涉仪光路损耗、光路总损耗等。

现有技术光路损耗测试方法是:对于光源功率测试需要先将光源连接光源驱动装置,再借助光功率计测试光功率输出,对于耦合器、Y波导、光纤环等无源器件,需要找到试验光源,再将试验光源与待测器件连接,然后再将试验光源连接光源驱动装置,再测试待测器件输出光功率,该方法测试复杂,操作不当易损伤器件。而对于干涉仪光路、光路总损耗却无法测试。

发明内容

本发明要解决的技术问题是:克服现有技术的不足,提供了一种光纤陀螺光路损耗性能测试系统,该系统能够实现光源输出光功率,耦合器、Y波导、光纤环、干涉仪连接损耗、光路总损耗测试,操作简单,精度高,结果自动显示,方便检测光纤熔接过程损耗。

本发明目的通过以下技术方案予以实现:

一种光纤陀螺用光路性能测试系统,包括光源输出驱动模块、光源输出模块、光功率测试模块、干涉仪光路损耗测试模块、探测器电压检测模块和数据处理显示模块;

所述光源输出驱动模块用于向光源输出模块输出驱动电流;所述光源输出模块用于向光功率测试模块和干涉仪光路损耗测试模块输出光信号;所述光功率测试模块能够测试光源输出模块输出的光信号的光功率,也能够测试外部器件输出的光信号的光功率,光功率测试模块将光源输出模块输出的光信号的光功率或外部器件输出的光信号的光功率输出给数据处理显示模块;所述干涉仪光路损耗测试模块接收光源输出模块输出的光信号,然后测试外部干涉仪光路的损耗;所述探测器电压检测模块用于测试外部探测器的电压然后发送给干涉仪光路损耗测试模块,所述干涉仪光路损耗测试模块根据外部探测器的电压测试外部探测器的光功率;所述干涉仪光路损耗测试模块将外部探测器的光功率和外部干涉仪光路的损耗均输出给数据处理显示模块;所述数据处理显示模块对光源输出模块输出的光信号的光功率、外部器件输出的光信号的光功率、外部干涉仪光路的损耗、外部探测器的光功率进行比对显示。

上述光纤陀螺用光路性能测试系统,所述光源输出模块能输出850nm或1310nm或1550nm三种不同波长的光信号,且上述光信号的功率可调。

上述光纤陀螺用光路性能测试系统,所述光源输出模块包括光源、光源波长显示屏和不同波长光源选择按钮;所述不同波长光源选择按钮能够输出波长切换指令通过光源波长显示屏给光源用于切换光源输出的光信号的波长;所述光源波长显示屏用于显示不同波长光源选择按钮切换的光信号的波长;所述光源根据不同波长光源选择按钮的波长切换指令输出相应波长的光信号。

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