[发明专利]X射线衍射测量中的测量结果的显示方法

权利要求书

1.一种X射线衍射测量中的测量结果的显示方法，所述X射线衍射测量是向试样照射X射线并用X射线检测器检测由该试样衍射的X射线的测量，所述X射线衍射测量中的测量结果的显示方法的特征在于，

基于前述X射线检测器的输出数据，在坐标内，显示2θ－I分布图，从而形成一维衍射分布图，所述坐标在正交坐标轴的一个取衍射角度2θ值，在正交坐标轴的另一个取X射线强度I值；

在二维图像用坐标内，显示多个德拜环的各自的周向上的X射线强度数据，从而形成二维衍射图案，所述二维图像用坐标在正交坐标轴的一个取衍射角度2θ值，在正交坐标轴的另一个取德拜环的周向的角度β值，所述多个德拜环是由试样衍射的X射线在各衍射角度2θ形成的；

前述德拜环的周向上的X射线强度数据在前述二维图像用坐标内被以直线状显示；

前述二维衍射图案和前述一维衍射分布图以两者的衍射角度2θ值相互一致的方式排列显示。

2.如权利要求1所述的X射线衍射测量中的测量结果的显示方法，其特征在于，

当在前述二维衍射图案上或前述一维衍射分布图上被指定了希望放大范围时，将该被指定的范围的二维衍射图案及一维衍射分布图在相互排列的状态下以相同的比率进行放大显示。

3.如权利要求1或2所述的X射线衍射测量中的测量结果的显示方法，其特征在于，

前述X射线衍射测量是具有下述工序的测量：考虑到德拜环的周向的均匀性而进行晶相候选的检索。

4.如权利要求3所述的X射线衍射测量中的测量结果的显示方法，其特征在于，具有：

求出β－I数据的工序；

基于前述β－I数据将与前述德拜环对应的衍射图案分类到各群组的工序；以及

在相同的群组内进行晶相候选的检索的工序。