[发明专利]一种WIC镶嵌线铜比测量的方法

说明书

本发明公开了超导材料性能测量技术领域的一种WIC镶嵌线铜比测量的方法，包括样品，所述样品包括铜槽线和圆芯线，所述铜槽线包裹在所述圆芯线的外表面，还包括以下所述步骤：样品称重处理，剥离铜槽线和圆芯线，圆芯线脱铜腐蚀，圆芯线的清洁和干燥，称重铜比计算和误差处理，本发明简便易掌握，缩短了测量周期，硝酸利用率高，测量精度明显优于现有技术，且减少环境污染，可重复性好，可操作性强，一般工人经过简单培训就能掌握，提高了产品性能检测的效率，节省了硝酸的使用量，保护环境。

技术领域

本发明涉及超导材料性能测量技术领域，具体为一种WIC镶嵌线铜比测量的方法。

背景技术

以NbTi和Nb3Sn为代表低温超导线材是目前应用最广泛的超导体。在核磁共振成像仪(MRI)、核磁共振谱仪(NMR)、大型粒子加速器及超导储能系统(SMES)，磁约束核聚变装置(Tokamak)等多个领域有着极其广泛的应用。

而今，随着国内低温超导线材大规模生产的展开，线材种类增加，面向的客户群也在日益增大。WIC镶嵌线的产量也日益加大，其铜比性能的测试也必须加快效率。铜比是线材铜与超导部分的体积比，目前采用通过化学腐蚀铜区的前后样品重量计算铜超比，由于WIC镶嵌线的结构特殊由铜槽线和圆芯线镶嵌而成，有着尺寸大、铜比大的特征，在测量铜比过程中很耗时耗力,需要对镶嵌线上的铜槽线内的铜通过硝酸进行全部腐蚀，才能够得到完整的圆芯线，腐蚀后的铜料无法再次重复使用，同时较多的铜料相对需要的硝酸使用量较大，反应周期较长，而且精准度较低。

发明内容

本发明的目的在于提供一种WIC镶嵌线铜比测量的方法，以解决上述背景技术中提出的现有的采用密度法测量WIC镶嵌线腐蚀时间长、测量效率慢、硝酸利用率低等的问题。本发明提供一种WIC镶嵌线铜比测量过程简单、有效、精确、且可重复性好的测量方法。

为实现上述目的，本发明提供如下技术方案：一种WIC镶嵌线铜比测量的方法，包括样品，所述样品包括铜槽线和圆芯线，所述铜槽线包裹在所述圆芯线的外表面，还包括以下所述步骤：

步骤一、样品称重处理：将样品取得测量铜比所需尺寸，用有机溶剂擦拭表面，保证清洁，待样品干燥后，再称重得到样品重量M_W；

步骤二、剥离铜槽线和圆芯线：将称完重量的样品，铜槽线与圆芯线用物理方法进行剥离；

步骤三、圆芯线脱铜腐蚀：将样品分离后得到的圆芯线浸入体积比40％～60％的硝酸溶液中，直至内部芯丝完全分散开，无粘结；

步骤四、圆芯线的清洁和干燥：将腐蚀完的样品取出，用流动水反复冲洗，再以酒精脱水；

步骤五、称重铜比计算，将烘干的样品取出，进行称重，得到芯丝重量MNb-Ti，再用密度法测量出其铜比，其中铜密度符号为ρ_Cu，芯丝密度符号为ρ_NbTi；

步骤六、误差处理，取上述相同规格和大小的样品，进行重复上述步骤，测取铜超比平均值。

本发明步骤一样品的取样长度至少为150mm。

本发明步骤二物理方法剥离优选用裁剪工具沿铜槽线与圆芯线镶嵌的方向将其剪开，再用剥离工具将铜槽线与圆芯线分离，得到圆芯线待腐蚀。

本发明步骤二优选斜口钳为裁剪工具对铜槽线进行裁剪工作，并且优选尖嘴钳作为剥离工具，将铜槽线从圆芯线表面分离，取出圆芯线。

本发明步骤四酒精脱水后样品优选用烘箱烘干。

与现有技术相比，本发明的有益效果是：