[发明专利]一种图像捕获设备有效
申请号: | 201811006606.0 | 申请日: | 2018-08-31 |
公开(公告)号: | CN109474771B | 公开(公告)日: | 2020-12-25 |
发明(设计)人: | 李向利;M·C·帕特尔 | 申请(专利权)人: | 苹果公司 |
主分类号: | H04N5/225 | 分类号: | H04N5/225;H04N5/232 |
代理公司: | 中国贸促会专利商标事务所有限公司 11038 | 代理人: | 边海梅 |
地址: | 美国加*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 图像 捕获 设备 | ||
1.一种图像捕获设备,包括:
成像区域,所述成像区域包括以拜耳图案行和拜耳图案列布置的多个滤色像素,其中:
每个滤色像素包括光电检测器的二维阵列;
光电检测器阵列中的每个光电检测器与所述光电检测器阵列中的每个其他光电检测器电隔离;并且
在每个光电检测器阵列上方设置不同的微透镜;
像素读出电路,对于每个滤色像素,所述像素读出电路包括:
共享读出电路,所述共享读出电路与用于所述滤色像素的光电检测器阵列相关联;和
一组电荷传输晶体管,每个电荷传输晶体管能够操作以将所述光电检测器阵列中的光电检测器连接到所述共享读出电路;以及
处理器,所述处理器被配置为:
操作用于第一拜耳图案行中的多个滤色像素的多组电荷传输晶体管以检测图像的第一组边缘中的第一相位差,其中对于所述第一拜耳图案行,将每个滤色像素的第一列的两个光电检测器的相加的电荷与第二列的两个光电检测器的相加的电荷相比较,以检测电荷中的相位差;以及
操作用于第二拜耳图案行中的多个滤色像素的多组电荷传输晶体管以检测所述图像的第二组边缘中的第二相位差,所述第一组边缘与所述第二组边缘正交,其中对于所述第二拜耳图案行,将每个滤色像素的第一行的两个光电检测器的相加的电荷与第二行的两个光电检测器的相加的电荷相比较,以检测电荷中的相位差。
2.根据权利要求1所述的图像捕获设备,其中每个共享读出电路包括浮动扩散节点。
3.根据权利要求2所述的图像捕获设备,其中所述处理器被配置为操作用于第一滤色像素的第一组电荷传输晶体管,以将电荷从所述第一滤色像素的一对光电检测器同时传输至所述第一滤色像素的第一浮动扩散节点,所述一对光电检测器选自:
第一行中的第一对光电检测器;
第二行中的第二对光电检测器;
第一列中的第三对光电检测器;和
第二列中的第四对光电检测器。
4.根据权利要求1所述的图像捕获设备,还包括:
透镜,其中所述处理器被配置为:
从所述第一相位差或所述第二相位差中的至少一个识别出离焦状态;以及
调整所述多个滤色像素和所述透镜之间的关系。
5.根据权利要求1所述的图像捕获设备,其中每个滤色像素包括设置在所述滤色像素的光电检测器阵列和所述微透镜之间的颜色滤光片。
6.根据权利要求1所述的图像捕获设备,其中每个微透镜的周边部分具有凸形形状。
7.根据权利要求1所述的图像捕获设备,其中:
操作用于第一拜耳图案行中的多个滤色像素的多组电荷传输晶体管以检测第一相位差包括配置用于第一像素的第一组电荷传输晶体管以对沿第一方向对准的第一对光电检测器的电荷求和;
操作用于第二拜耳图案行中的多个滤色像素的多组电荷传输晶体管以检测第二相位差包括配置用于第二像素的第二组电荷传输晶体管以对沿第二方向对准的第二对光电检测器的电荷求和。
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