[发明专利]时钟信号的验证方法和装置

说明书

本发明提供一种时钟信号的验证方法和装置。该方法包括：监控目标芯片中待验证的时钟信号；根据监控到的所述时钟信号的低电平和高电平的时间信息，确定所述时钟信号的第一状态数据；所述第一状态数据包括：所述时钟信号的周期和占空比；根据当前的测试场景和所述时钟信号的第一状态数据，确定所述时钟信号的运行状态是否正确。本发明实施例提高了时钟信号的验证效率，即可以更快的定位出由时钟运行错误引发的问题，进而提高芯片验证的效率。

技术领域

本发明涉及集成电路验证技术领域，尤其涉及一种时钟信号的验证方法和装置。

背景技术

随着计算机技术和微电子技术的迅速发展，嵌入式系统应用领域越来越广泛。嵌入式系统的核心部件就是带有处理器和各种数字模拟外设的片上系统(System-on-a-Chip，简称SOC)芯片。随着半导体工艺的飞速发展和芯片复杂程度的提高，芯片的研发迎来越来越多挑战。而在芯片的研发过程中，设计完芯片后，需要对该芯片的功能进行验证，即验证所设计的芯片是否符合预期的要求。目前在对集成电路的验证中，随着芯片规模的增大，芯片设计中验证需要的时间越来越长，占整个设计周期的比例越来越大。

数字芯片中有各种逻辑信号，而这些信号又都是基于时钟而变化的，一个复杂芯片中会有几十个甚至更多不同的时钟，确认这些时钟是否正确工作，直接决定了芯片本身是否能正确工作，因此对芯片的验证首先需要对时钟的行为正确性进行验证。针对时钟信号行为正确性的验证，现有的静态时序分析方法中需要根据电路图进行人工分析，效率较低。

发明内容

本发明提供一种时钟信号的验证方法和装置，以提高时钟信号的验证效率。

第一方面，本发明提供一种时钟信号的验证方法，包括：

监控目标芯片中待验证的时钟信号；

根据监控到的所述时钟信号的低电平和高电平的时间信息，确定所述时钟信号的第一状态数据；所述第一状态数据包括：所述时钟信号的周期和占空比；

根据当前的测试场景和所述时钟信号的第一状态数据，确定所述时钟信号的运行状态是否正确。

第二方面，本发明提供一种时钟信号的验证装置，包括：

监控模块，用于监控目标芯片中待验证的时钟信号；

所述监控模块，还用于根据监控到的所述时钟信号的低电平和高电平的时间信息，确定所述时钟信号的第一状态数据；所述第一状态数据包括：所述时钟信号的周期和占空比；

检查模块，用于根据当前的测试场景和所述时钟信号的第一状态数据，确定所述时钟信号的运行状态是否正确。

第三方面，本发明实施例提供一种计算机可读存储介质，其上存储有计算机程序，所述计算机程序被处理器执行时实现第一方面中任一项所述的方法。

第四方面，本发明实施例提供一种电子设备，包括：

处理器；以及

存储器，用于存储所述处理器的可执行指令；

其中，所述处理器配置为经由执行所述可执行指令来执行第一方面中任一项所述的方法。

本发明实施例提供的时钟信号的验证方法和装置，监控目标芯片中待验证的时钟信号；根据监控到的所述时钟信号的低电平和高电平的时间信息，确定所述时钟信号的第一状态数据；所述第一状态数据包括：所述时钟信号的周期和占空比；根据当前的测试场景和所述时钟信号的第一状态数据，确定所述时钟信号的运行状态是否正确，提高了时钟信号的验证效率，即可以更快的定位出由时钟运行错误引发的问题，进而提高芯片验证的效率。

附图说明

此处的附图被并入说明书中并构成本说明书的一部分，示出了符合本公开的实施例，并与说明书一起用于解释本公开的原理。