[发明专利]裸电芯外观尺寸检测方法、电子设备、存储介质及系统

权利要求书

1.裸电芯外观尺寸检测方法，其特征在于包括以下步骤：

接收到位信号，接收第一裸电芯到位信号，并根据所述第一裸电芯到位信号控制裸电芯移位装置移动裸电芯至检测位置；

采集裸电芯图像，接收第二裸电芯到位信号，并根据所述第二裸电芯到位信号发送采集信号至图像采集装置进行图像采集，得到裸电芯图像；

检测裸电芯外观尺寸，通过定位参数在所述裸电芯图像上查找裸电芯位置，在所述裸电芯位置处对裸电芯极耳间距、裸电芯宽度进行测量，判断所述裸电芯极耳间距、裸电芯宽度是否在阈值内，是则裸电芯外观尺寸正常，否则裸电芯外观尺寸异常；

所述检测裸电芯外观尺寸中，通过定位参数在所述裸电芯图像上生成第一定位框和第二定位框，根据第一定位框和第二定位框查找裸电芯位置；

所述检测裸电芯外观尺寸中，在所述裸电芯位置处生成第一极耳定位框、第二极耳定位框、第一裸电芯边沿定位框、第二裸电芯边沿定位框，对所述第一极耳定位框、第二极耳定位框内的裸电芯极耳间距进行测量，对所述第一裸电芯边沿定位框、第二裸电芯边沿定位框内的裸电芯宽度进行测量。

2.如权利要求1所述的裸电芯外观尺寸检测方法，其特征在于：还包括步骤检测结果处理，若裸电芯外观尺寸正常，则控制所述裸电芯移位装置将所述裸电芯移送至卷绕机的下一工位，并跳转至步骤接收到位信号；若裸电芯外观尺寸异常，则控制所述裸电芯移位装置将所述裸电芯移送至卷绕机的下一工位，同时发送不合格信号至卷绕机对所述裸电芯进行剔除处理，并跳转至步骤接收到位信号。

3.如权利要求1所述的裸电芯外观尺寸检测方法，其特征在于：所述第一裸电芯到位信号为所述裸电芯位于卷绕机检测区域的信号，所述第二裸电芯到位信号为所述裸电芯位于所述检测位置的信号。

4.一种电子设备，其特征在于包括：处理器；

存储器；以及程序，其中所述程序被存储在所述存储器中，并且被配置成由处理器执行，所述程序包括用于执行权利要求1-3任意一项所述的方法。

5.一种计算机可读存储介质，其上存储有计算机程序，其特征在于：所述计算机程序被处理器执行如权利要求1-3任意一项所述的方法。

6.裸电芯外观尺寸检测系统，其特征在于：包括卷绕机、传感器、图像采集装置、IO板卡、工控机、裸电芯外观尺寸检测模块、裸电芯移位装置；所述传感器、所述图像采集装置、所述裸电芯移位装置与所述工控机连接，所述工控机通过所述IO板卡与所述卷绕机连接，所述裸电芯外观尺寸检测模块安装在所述工控机内；所述传感器检测所述卷绕机上检测区域的裸电芯，并将第一裸电芯到位信号发送至所述裸电芯外观尺寸检测模块，所述裸电芯外观尺寸检测模块根据所述第一裸电芯到位信号控制所述裸电芯移位装置移送所述裸电芯至所述图像采集装置的检测位置，所述传感器检测所述检测位置的裸电芯，并将第二裸电芯到位信号发送至所述裸电芯外观尺寸检测模块，所述裸电芯外观尺寸检测模块根据所述第二裸电芯到位信号控制所述图像采集装置采集裸电芯图像，所述裸电芯外观尺寸检测模块检测所述裸电芯图像中裸电芯极耳间距、裸电芯宽度，生成检测结果；所述芯外观尺寸检测模块通过定位参数在所述裸电芯图像上生成第一定位框和第二定位框，根据第一定位框和第二定位框查找裸电芯位置；所述芯外观尺寸检测模块在所述裸电芯位置处生成第一极耳定位框、第二极耳定位框、第一裸电芯边沿定位框、第二裸电芯边沿定位框，对所述第一极耳定位框、第二极耳定位框内的裸电芯极耳间距进行测量，对所述第一裸电芯边沿定位框、第二裸电芯边沿定位框内的裸电芯宽度进行测量。

7.如权利要求6所述的裸电芯外观尺寸检测系统，其特征在于：所述检测结果包括裸电芯外观尺寸正常和裸电芯外观尺寸异常，当裸电芯外观尺寸正常时，所述裸电芯外观尺寸检测模块控制所述裸电芯移位装置将所述裸电芯移送至卷绕机的下一工位，当裸电芯外观尺寸异常时，所述裸电芯外观尺寸检测模块控制所述裸电芯移位装置将所述裸电芯移送至卷绕机的下一工位，同时发送不合格信号至卷绕机对所述裸电芯进行剔除处理。

8.如权利要求6所述的裸电芯外观尺寸检测系统，其特征在于：所述图像采集装置包括工业相机、镜头、光源，所述镜头安装在所述工业相机上，所述光源用于照亮所述裸电芯待检测位置，所述工业相机通过所述镜头采集所述裸电芯图像。