[发明专利]测试缺陷自动预警方法、装置、计算机设备及存储介质有效

专利信息
申请号: 201811010218.X 申请日: 2018-08-31
公开(公告)号: CN109274526B 公开(公告)日: 2023-04-07
发明(设计)人: 黄锦伦 申请(专利权)人: 平安科技(深圳)有限公司
主分类号: H04L41/0631 分类号: H04L41/0631;H04L43/06;H04L43/08;G08B21/24
代理公司: 深圳众鼎专利商标代理事务所(普通合伙) 44325 代理人: 黄章辉
地址: 518000 广东省深圳市福田区福*** 国省代码: 广东;44
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摘要:
搜索关键词: 测试 缺陷 自动 预警 方法 装置 计算机 设备 存储 介质
【说明书】:

发明公开一种测试缺陷自动预警方法、装置、设备及介质,该方法包括从项目管理系统中获取缺陷数据,缺陷数据对应一缺陷等级和开发人员接口;若缺陷等级大于预设等级,则获取第一提醒频率,根据第一提醒频率向与缺陷数据对应的开发人员接口发送第一提醒消息;若缺陷等级不大于预设等级,统计每一开发人员接口对应的缺陷数据数量;若缺陷数据数量大于预设数量,则获取第二提醒频率,根据第二提醒频率向开发人员接口发送第二提醒消息;若缺陷等级不大于预设等级,且缺陷数据数量不大于预设数量,定时获取测试缺陷统计报告,将测试缺陷统计报告发送给监控人员接口,实现通过提醒消息对缺陷数据及时修复,提高修复效率。

技术领域

本发明涉及软件测试领域,尤其涉及一种测试缺陷自动预警方法、装置、计算机设备及存储介质。

背景技术

目前,大部分项目管理系统对于测试缺陷并无直观有效的监控方法,当出现测试缺陷后,开发人员无法快速获取到测试缺陷。通常开发人员固定时间,获取到所有的缺陷数据,再对缺陷数据进行修复,导致无法及时对测试缺陷进行修复,使得测试缺陷修复时间较长。

发明内容

本发明实施例提供一种测试缺陷自动预警方法、装置、计算机设备及存储介质,以解决测试缺陷修复时间较长的问题。

一种测试缺陷自动预警方法,包括:

从项目管理系统中获取缺陷数据,所述缺陷数据对应一缺陷等级和开发人员接口;

若所述缺陷等级大于预设等级,则基于所述缺陷等级获取第一提醒频率,根据所述第一提醒频率向与所述缺陷数据对应的开发人员接口发送第一提醒消息;

若所述缺陷等级不大于预设等级,统计每一开发人员接口对应的缺陷数据数量;若所述缺陷数据数量大于预设数量,则基于所述缺陷数据数量获取第二提醒频率,根据所述第二提醒频率向所述开发人员接口发送第二提醒消息;

若所述缺陷等级不大于预设等级,且所述缺陷数据数量不大于预设数量,则基于所述缺陷数据,定时获取测试缺陷统计报告,并将所述测试缺陷统计报告发送给监控人员接口。

一种测试缺陷自动预警装置,包括:

缺陷数据获取模块,用于从项目管理系统中获取缺陷数据,所述缺陷数据对应一缺陷等级和开发人员接口;

第一预警模块,用于若所述缺陷等级大于预设等级,则基于所述缺陷等级获取第一提醒频率,根据所述第一提醒频率向与所述缺陷数据对应的开发人员接口发送第一提醒消息;

第二预警模块,用于若所述缺陷等级不大于预设等级,统计每一开发人员接口对应的缺陷数据数量;若所述缺陷数据数量大于预设数量,则基于所述缺陷数据数量获取第二提醒频率,根据所述第二提醒频率向所述开发人员接口发送第二提醒消息;

第三预警模块,用于若所述缺陷等级不大于预设等级,且所述缺陷数据数量不大于预设数量,则基于所述缺陷数据,定时获取测试缺陷统计报告,并将所述测试缺陷统计报告发送给监控人员接口。

一种计算机设备,包括存储器、处理器以及存储在所述存储器中并可在所述处理器上运行的计算机程序,所述处理器执行所述计算机程序时实现上述测试缺陷自动预警的步骤。

一种计算机可读存储介质,所述计算机可读存储介质存储有计算机程序,所述计算机程序被处理器执行时实现上述测试缺陷自动预警方法的步骤。

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