[发明专利]一种用于植被微弱荧光被动探测的高分辨率、高数值孔径成像光谱仪有效
申请号: | 201811012191.8 | 申请日: | 2018-08-31 |
公开(公告)号: | CN108896175B | 公开(公告)日: | 2020-05-05 |
发明(设计)人: | 于磊;陈素娟;薛辉;徐明明;罗晓乐;沈威;武艺 | 申请(专利权)人: | 中国科学院合肥物质科学研究院 |
主分类号: | G01J3/18 | 分类号: | G01J3/18;G01J3/16 |
代理公司: | 北京科迪生专利代理有限责任公司 11251 | 代理人: | 杨学明;邓治平 |
地址: | 230031 *** | 国省代码: | 安徽;34 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 用于 植被 微弱 荧光 被动 探测 高分辨率 数值孔径 成像 光谱仪 | ||
1.一种用于植被微弱荧光探测的成像光谱仪,其特征在于:包括依次设置的狭缝(1)、第一透镜(2)、第二透镜(3)、第三透镜(4)、第四透镜(5)、第五透镜(6)、第六透镜(7)、平面透射光栅(8)、第八透镜(9)、第九透镜(10)、第十透镜(11)、第十一透镜(12)、第十二透镜(13)、第十三透镜(14)和像面(15),其中第一透镜(2)、第二透镜(3)、第三透镜(4)、第四透镜(5)、第五透镜(6)和第六透镜(7)组成准直镜组;第八透镜(9)、第九透镜(10)、第十透镜(11)、第十一透镜(12)、第十二透镜(13)和第十三透镜(14)组成聚焦镜组;孔径光阑位于平面透射光栅(8)上;准直镜组将狭缝(1)出射光投射在平面透射光栅(8)上,平面透射光栅(8)将准直光进行色散,并经聚焦镜组形成连续色散光谱成像投射到像面上;
所述成像光谱仪的工作波段为670nm~780nm,数值孔径0.265,准直镜组和聚焦镜组焦距260mm,光谱分辨率0.142nm,像元光谱采样0.064nm/像元,全视场点列图均方根半径值在全波段下均小于6.5微米,
表1高分辨率、高数值孔径成像光谱仪光学元件参数
系统各元件参数如表1。
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