[发明专利]图像处理装置、图像处理系统以及存储介质有效
申请号: | 201811024889.1 | 申请日: | 2018-09-04 |
公开(公告)号: | CN109425309B | 公开(公告)日: | 2021-09-14 |
发明(设计)人: | 松浦心平 | 申请(专利权)人: | 株式会社三丰 |
主分类号: | G01B11/25 | 分类号: | G01B11/25;G06T7/521;G06T17/00 |
代理公司: | 北京市柳沈律师事务所 11105 | 代理人: | 陈金林 |
地址: | 日本神*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 图像 处理 装置 系统 以及 存储 介质 | ||
一种图像处理装置3,包括:图像获取部件322,其获取多个不同测量的图像;建模部件323,其对于每个像素标识近似按捕获顺序放置与所述各个测量的图像对应的像素的像素值的数据序列的近似函数的建模的参数;重构的图像生成部件324,其生成作为与所述各个测量的图像对应的图像并且通过基于每个像素的所述建模的参数所标识的每个像素的近似值所重构的重构的图像;以及图像改变部件325,其基于测量的图像的像素值的统计以及所述对应重构的图像的像素值的统计改变测量的图像的像素值。
技术领域
本发明涉及用于测量待测量的对象的几何的一种图像处理装置、一种图像处理系统以及一种存储介质。
背景技术
作为测量待测量的对象的三维几何的技术,通过捕获具有多个投影图案的光投影到的待测量的对象来测量待测量的对象的几何的三维(3D)几何测量机器是已知的(参照非专利文献“Saishin Hikari Sanjigen Sokutei”,Toru Yoshizawa,2006)。
发明内容
本发明待解决的问题
通过捕获待测量的对象的三维(3D)几何测量机器所获取的测量的图像可能受周围环境(例如待测量的对象的周围的光的量的波动、投影到待测量的对象上的光的亮度的波动等)影响。
已经存在如果测量的图像受周围环境影响,则在测量待测量的对象之时的测量精度可能不利地受影响的担心。
本发明关注于这一点,并且本发明的目的是提供一种用于减少周围环境对测量的图像的影响的技术。
用于解决问题的手段
根据本发明第一方面的图像处理装置包括:图像获取部件,其获取通过捕获具有亮度根据投影图像的坐标所确定的相位而改变并且所述相位与所述坐标之间的关系彼此不同的不同投影图案的光依次投影到的待测量的对象所获取的多个不同测量的图像;建模部件,其对于每个像素标识近似按捕获顺序放置与各个测量的图像对应的像素的像素值的数据序列的近似函数的建模的参数;重构的图像生成部件,其生成作为与所述各个测量的图像对应的图像并且所述图像通过基于每个像素的建模的参数所标识的各个像素的近似值被重构;以及图像改变部件,其基于测量的图像的像素值的统计以及所述对应重构的图像的像素值的统计改变测量的图像的像素值。
所述建模部件可以基于像素值由所述图像改变部件改变的测量的图像标识建模的参数。
所述图像处理装置还可以包括:几何标识部件,其通过使用所述图像改变部件所改变的测量的图像标识待测量的对象的几何。
所述图像获取部件可以获取标识测量的图像的捕获顺序的标识符添加到的所述多个不同测量的图像。
所述图像改变部件可以通过从各个测量的图像的每个像素的像素值减去测量的图像中所包括的像素的像素值的平均值与所述对应重构的图像中所包括的像素的像素值的平均值之间的差来改变测量的图像的像素值。
所述图像处理装置可以还包括:装置控制部件,其控制投影装置,从而将具有所述投影图案的光依次投影到所述待测量的对象上。
所述装置控制部件可以控制所述投影装置,从而在改变正弦图案的相位的同时,依次投影具有带有所述正弦图案的所述投影图案的光。
对于大于或等于预定数量的像素数量,如果基于以下项标识的像素的相位变化量大于预定阈值,则所述图像改变部件可以改变测量的图像的像素值:(i)用于具有未改变的像素值的所述各个测量的图像的每个像素的所述建模的参数中所包括的相位值;以及(ii)用于具有改变后的像素值的各个测量的图像的每个像素的所述建模的参数中所包括的相位值。
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