[发明专利]OLED显示基板、显示装置及其制作方法在审
申请号: | 201811025680.7 | 申请日: | 2018-09-04 |
公开(公告)号: | CN108807719A | 公开(公告)日: | 2018-11-13 |
发明(设计)人: | 丁小梁;王海生;董学;陈小川;刘英明;张粲;祝明;玄明花;杨盛际;邓立凯 | 申请(专利权)人: | 京东方科技集团股份有限公司 |
主分类号: | H01L51/52 | 分类号: | H01L51/52;H01L51/56;H01L27/32 |
代理公司: | 北京银龙知识产权代理有限公司 11243 | 代理人: | 许静;张博 |
地址: | 100015 *** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 阴极 基板 反光金属层 阳极 发光单元 显示装置 预设 驱动电路层 透明导电层 有机发光层 层叠设置 衬底基板 光学补偿 透光 透光率 制作 发光 | ||
1.一种OLED显示基板,包括位于衬底基板上的驱动电路层和多个发光单元,所述发光单元包括透光的阳极、阴极以及位于阳极和阴极之间的有机发光层,其特征在于,所述阴极包括层叠设置的透明导电层和反光金属层,所述反光金属层的透光率大于预设的第一阈值小于预设第二阈值。
2.根据权利要求1所述的OLED显示基板,其特征在于,所述第一阈值为5%,所述第二阈值为10%。
3.一种OLED显示基板的制作方法,所述OLED显示基板包括位于衬底基板上的驱动电路层和多个发光单元,所述发光单元包括透光的阳极、阴极以及位于阳极和阴极之间的有机发光层,其特征在于,形成所述阴极包括:
形成层叠设置的透明导电层和反光金属层,所述反光金属层的透光率大于预设的第一阈值小于预设第二阈值。
4.根据权利要求3所述的OLED显示基板的制作方法,其特征在于,所述第一阈值为5%,所述第二阈值为10%。
5.一种OLED显示装置,其特征在于,包括:
如权利要求1或2所述的OLED显示基板;
与所述OLED显示基板封装在一起的封装基板,所述封装基板上设置有光电检测器件阵列,所述光电检测器件阵列中的光电检测器件与所述OLED显示基板的像素一一对应。
6.根据权利要求5所述的OLED显示装置,其特征在于,还包括:
位于所述封装基板和所述OLED显示基板之间的准直光学结构,所述准直光学结构用于防止除与光电检测器件对应的像素之外的其他像素发出的光线进入光电检测器件中。
7.根据权利要求6所述的OLED显示装置,其特征在于,所述准直光学结构包括:
位于相邻光电检测器件之间的遮光挡墙,所述遮光挡墙包围每个光电检测器件;或
与所述光电检测器件一一对应的凸透镜,所述凸透镜的中心与对应的光电检测器件的中心重合,所述凸透镜的尺寸不大于所述光电检测器件的尺寸;
位于所述封装基板用以与所述OLED显示基板封装的一面上的准直器;或
贴附在所述封装基板用以与所述OLED显示基板封装的一面上的基底以及位于所述基底上的准直器。
8.一种OLED显示装置的制作方法,其特征在于,包括:
利用如权利要求3或4所述的制作方法制作OLED显示基板;
提供一封装基板,在所述封装基板上制作光电检测器件阵列,所述光电检测器件阵列中的光电检测器件与所述OLED显示基板的像素一一对应;
将所述封装基板与所述OLED显示基板封装在一起。
9.根据权利要求8所述的OLED显示装置的制作方法,其特征在于,还包括:
在所述封装基板和所述OLED显示基板之间制作准直光学结构,所述准直光学结构用于防止除与光电检测器件对应的像素之外的其他像素发出的光线进入光电检测器件中。
10.根据权利要求9所述的OLED显示装置的制作方法,其特征在于,制作所述准直光学结构包括:
在相邻光电检测器件之间制作遮光挡墙,所述遮光挡墙包围每个光电检测器件;或
制作与所述光电检测器件一一对应的凸透镜,所述凸透镜的中心与对应的光电检测器件的中心重合,所述凸透镜的尺寸不大于所述光电检测器件的尺寸;或
在所述封装基板用以与所述OLED显示基板封装的一面上形成准直器;或
提供一基底,在所述基底上形成准直器,将所述基底贴附在所述封装基板用以与所述OLED显示基板封装的一面上。
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