[发明专利]基于DSP板卡的测试装置及其测试方法

说明书

本发明提供了一种基于DSP板卡的测试装置及其测试方法，首先，上电时，DSP6713芯片的EMIF总线的高5位地址线采用FPGA扩展且默认设置为0，此时DSP最小单元默认加载监控程序；其次，上位机和监控进行对码，并判断对码是否成功，若对码成功则执行监控程序，通过上位机修改配置信息，若对码失败则监控程序读取配置信息，执行选中的应用程序，最后，程序终止，断电。该技术方案对于使用DSP设备测试相似功能的多型号系列产品，实现了多应用程序的选择加载，提高了DSP板卡测试效率，同时节约了DSP板卡测试的成本。

技术领域

本发明涉及DSP板卡测试技术领域，尤其是涉及一种基于DSP板卡的测试装置及其测试方法。

背景技术

目前，DSP板卡测试是产品上线的基本步骤，在实现DSP板卡测试过程中，发明人发现现有技术中至少存在如下问题：DSP应用开发属于定制程序开发，每种DSP板卡需要开发专用的应用程序，系统上电后只能加载执行一种程序。若要执行另一套应用程序，只能将新的程序覆盖掉旧的程序。对于使用DSP设备测试相似功能的多型号系列产品，通常采用多个单一应用程序灌装的测试板卡交换使用，难以做到高效的测试，且测试成本高昂。

发明内容

有鉴于此，本发明的目的在于提供一种基于DSP板卡的测试装置及其测试方法，以缓解现有技术中存在的测试效率低、测试成本高的技术问题。

本发明实施例提供了一种基于DSP板卡的测试方法，包括如下步骤：

a.上电时，DSP的EMIF总线的高5位地址线采用FPGA扩展且默认设置为0，此时DSP最小单元默认加载监控程序。

b.上位机和监控进行对码，并判断对码是否成功，若对码成功则执行步骤c，若对码失败则执行步骤d；

c.执行监控程序，通过上位机修改配置信息；

d.监控程序读取配置信息，执行选中的应用程序；

e.程序终止，断电。

本发明实施例提供的基于DSP板卡的测试方法中，步骤a具体为：

a1.FPGA上电时设置FLASH地址线A[24:20]为全0；

a2.DSP上电后通过EDMA自动地从EMIF接口的CE1空间搬移二次boot代码到片内RAM的0x00000000到0x00000400空间；

a3.搬移完成后自动跳转到地址0x00000000处执行上一步骤的二次boot代码；

a4.二级boot代码将监控程序从外部FLASH搬移到内部RAM中，并且在代码搬移完后跳转到监控程序入口地址c_int00。

进一步的，本发明实施例提供的基于DSP板卡的测试方法中，步骤d具体为：

d1.监控程序控制FPGA将FLASH地址线A[24:20]设置为非0值；

d2.监控程序控制FPGA对DSP硬复位；

d3.DSP复位后通过EDMA自动地从EMIF接口的CE1空间搬移二次boot代码到片内RAM的0x00000000到0x00000400空间；

d4.搬移完成后自动跳转到地址0x00000000处执行上一步骤的二次boot代码；

d5.二级boot代码将应用程序从外部FLASH搬移到内部RAM中，并且在代码搬移完后跳转到应用程序入口地址c_int00。

进一步的，本发明实施例提供的基于DSP板卡的测试方法中，步骤c具体为：执行监控程序，监控程序通过调试串口与上位机交互，配置信息存储到监控分区中。