[发明专利]一种基于特高压换流站直流场微电感综合测试仪

权利要求书

1.一种基于特高压换流站直流场微电感综合测试仪，包括处理器(1)、直流电压采样(2)、直流电流采样(3)、AD转换器(4)、12C存储器(5)，U盘处理(6)、触控液晶(7)、热敏打印机(8)和R型变压器(9)，其特征在于：所述直流电压采样(2)、直流电流采样(3)、AD转换器(4)、I2C存储器(5)，U盘处理(6)、触控液晶(7)和热敏打印机(8)均连接于处理器(1)，R型变压器(9)连接有RCL测试电源(10)和交流源档位(11)，RCL测试电源(10)与交流源档位(11)连接于处理器(1)，RCL测试电源(10)还连接有恒流源及档位(12)和四端法测量端子(13)，恒流源及档位(12)连接于处理器(1)；

直流电压采样(2)包括继电器J1、开关二极管D32和插口P-Uin，所述继电器J1的引脚1接12V电源，开关二极管D32的一端接继电器J1的引脚1电路接口，另一端接继电器J1的引脚10电路接口，插口P-Uin的引脚1接电阻Rm1，电阻Rm1接继电器J1的引脚8；

直流电流采样(3)包括运算放大器Um14、Um2，所述运算放大器Um14的引脚4接电压负极V-、引脚7接电压正极V+，运算放大器Um2的引脚3接电压负极V-、引脚8接电压正极V+，运算放大器Um14的引脚6接运算放大器Um2的引脚10；

12C存储器(5)包括控制芯片U3、存储芯片U8和温度采集传感芯片U7，所述控制芯片U3的引脚5、6接存储芯片U8的引脚5、6，控制芯片U3的引脚8接3.3V电源，存储芯片U8的引脚8电路接口接3.3V电源，温度采集传感芯片U7的引脚1、2接控制芯片U3的引脚5、6，温度采集传感芯片U7的引脚8接3.3V电源；

U盘处理(6)包括文件管理控制芯片U15和保护芯片U13，所述保护芯片U13的引脚6接文件管理控制芯片U15的引脚10电路接口，保护芯片U13的引脚3接文件管理控制芯片U15的引脚11电路接口，保护芯片U13的引脚5电路接口接3.3V电源。

2.根据权利要求1所述的一种基于特高压换流站直流场微电感综合测试仪，其特征在于：所述AD转换器(4)为一种16位、6通道同步采样模数数据采集系统AD7606。

3.根据权利要求1所述的一种基于特高压换流站直流场微电感综合测试仪，其特征在于：所述处理器(1)的型号为dsPIC33FJ256MC710。

4.根据权利要求1所述的一种基于特高压换流站直流场微电感综合测试仪，其特征在于：所述触控液晶(7)为一种8.0英寸800×600图形点阵K600+内核65K色DGUS屏。

5.根据权利要求1所述的一种基于特高压换流站直流场微电感综合测试仪，其特征在于：所述热敏打印机(8)采用串口TTL电平。

6.根据权利要求1所述的一种基于特高压换流站直流场微电感综合测试仪，其特征在于：所述继电器J1的型号为TF2-12V、运算放大器Um14的型号为OP07、运算放大器Um2的型号为AD8253、控制芯片U3的型号为24LC64SC、存储芯片U8的型号为24C512、温度采集传感芯片U7的型号为MCP9801SN、文件管理控制芯片U15的型号为CH376、保护芯片U13的型号为CH412A。