[发明专利]一种基于P3HT的颗粒薄膜磁电阻材料及制备方法在审

专利信息
申请号: 201811035926.9 申请日: 2018-09-06
公开(公告)号: CN109273594A 公开(公告)日: 2019-01-25
发明(设计)人: 程雅慧;郑灵程;刘晖 申请(专利权)人: 南开大学
主分类号: H01L43/08 分类号: H01L43/08;H01L43/10;H01L43/12
代理公司: 暂无信息 代理人: 暂无信息
地址: 300071 天*** 国省代码: 天津;12
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摘要:
搜索关键词: 磁电阻材料 颗粒薄膜 制备 室温磁电阻 薄膜工艺 磁控溅射 制备过程 兼容性 旋涂 薄膜 灵活
【权利要求书】:

1.一种新型的Co/P3HT颗粒薄膜磁电阻材料,其特征在于在有机半导体P3HT薄膜基础上,通过磁控溅射的方法将Co纳米颗粒嵌入到有机层P3HT中,得到一种颗粒薄膜材料,该颗粒薄膜在室温下具有明显的磁电阻效应。

2.如权利要求1所述的Co/P3HT颗粒薄膜磁电阻材料的制备方法,其特征在于制备过程的具体步骤如下:

1)将有机半导体P3HT溶于邻二氯苯有机溶剂中,浓度为5-20mg/mL,在常温下避光搅拌充分溶解均匀;

2)将步骤1)的混合溶液滴在清洁的玻璃衬底上,打开旋涂仪进行旋涂,旋涂仪转速为1000-3000rpm,旋涂时间为30-90s;

3)将步骤2)的得到的覆盖有P3HT的玻璃片放入真空干燥箱,在110-130℃的温度下真空退火5-10分钟,得到P3HT薄膜;

4)将步骤3)得到的P3HT薄膜作为衬底安装在磁控溅射系统的基片转台上,抽真空,当真空室压强低于4×10-4Pa后开始沉积Co薄膜,得到最终的Co/P3HT磁电阻器件;

5)步骤4)所述的磁控溅射过程中,靶材选用纯度大于或等于99%的Co靶,衬底温度保持常温,衬底自转;

6)步骤4)所述的磁控溅射过程中,应向真空室通入高纯惰性气体,真空室的惰性气体压强为0.5Pa,惰性气体流量为20sccm,直流溅射功率为40-60W,溅射时间为1-5分钟。

3.如权利要求2所述的制备Co/P3HT颗粒薄膜磁电阻材料的方法,其特征在于所述的P3HT溶液浓度优选10mg/mL。

4.如权利要求2所述的制备Co/P3HT颗粒薄膜磁电阻材料的方法,其特征在于所述的旋涂仪转速优选2000rpm,旋涂时间优选60s。

5.如权利要求2所述的制备Co/P3HT颗粒薄膜磁电阻材料的方法,其特征在于所述的靶材优选纯度大于或等于99.99%的Co靶。

6.如权利要求2所述的制备Co/P3HT颗粒薄膜磁电阻材料的方法,其特征在于所述的惰性气体优选高纯Ar气。

7.如权利要求2所述的制备Co/P3HT颗粒薄膜磁电阻材料的方法,其特征在于所述的直流溅射功率优选45W,溅射时间优选2分钟。

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