[发明专利]一种安全的加密芯片可测试性设计结构

权利要求书

1.一种安全的加密芯片可测试性设计结构，其特征在于，在常规扫描设计的基础上加入了密钥屏蔽逻辑、移位使能逻辑和安全扫描控制器，密钥屏蔽逻辑用于在测试模式下隔离加密密钥；移位使能逻辑用于在功能模式下禁用扫描移位操作，从而保护扫描链中的秘密信息；安全扫描控制器通过产生的安控信号来控制密钥屏蔽逻辑和移位使能逻辑，如果加密芯片在上电或复位后首先进入功能模式，安全扫描控制器允许密钥被加载，但禁止芯片从功能模式切换到测试模式，从而避免了中间加密信息的泄露；如果加密芯片在上电或复位后首先进入测试模式，安全扫描控制器控制密钥屏蔽逻辑使之隔离密钥，这保证了从扫描链移出的数据与密钥无关，并禁止从测试模式到功能模式的切换请求。

2.根据权利要求1所述的安全的加密芯片可测试性设计结构，其特征在于，安全扫描控制器具有三个输入信号：时钟输入信号,系统复位信号和系统测试控制信号，以及一个输出信号:安控信号，安控信号用来控制密钥屏蔽逻辑和移位使能逻辑，如果加密芯片在上电或复位后首先进入功能模式，安全扫描控制器输出的安控信号值为“0”，接下来无论系统测试控制信号怎么变化，安控信号都将保持为0，如果加密芯片在上电或复位后首先进入测试模式，安全扫描控制器输出的安控信号值为“1”，接下来无论系统测试控制信号怎么变化，安控信号都将保持为1，直到系统复位或重启时安全扫描控制器输出的安控信号才能改变。

3.根据权利要求1所述的安全的加密芯片可测试性设计结构，其特征在于，密钥屏蔽逻辑的控制信号由安全扫描控制器生成，如果控制信号为“0”，密钥屏蔽逻辑允许芯片正常加载密钥，也就是不屏蔽密钥，如果控制信号为“1”，密钥屏蔽逻辑将屏蔽密钥，此时密钥与芯片隔离。

4.根据权利要求1所述的安全的加密芯片可测试性设计结构，其特征在于，移位使能逻辑的控制信号由安全扫描控制器生成，如果控制信号为“0”，移位使能逻辑禁止移位操作，芯片只能工作在功能模式，如果控制信号为“1”，则允许移位操作，此时通过设定系统测试控制信号可以执行捕获和扫描移位。