[发明专利]III-V族化合物晶体的制造方法和半导体装置的制造方法在审
申请号: | 201811037236.7 | 申请日: | 2018-09-06 |
公开(公告)号: | CN109537056A | 公开(公告)日: | 2019-03-29 |
发明(设计)人: | 森勇介;吉村政志;今出完;今西正幸;森数洋司;田畑晋;诸德寺匠 | 申请(专利权)人: | 株式会社迪思科;国立大学法人大阪大学 |
主分类号: | C30B29/40 | 分类号: | C30B29/40;C30B19/02;C30B25/02;H01L33/30;H01L33/00 |
代理公司: | 北京三友知识产权代理有限公司 11127 | 代理人: | 庞东成;沈娥 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 日本;JP |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 晶种 基板 晶体的 制造 半导体装置 分离工序 晶体生长工序 基板分离 剥离 生长 | ||
本发明提供一种容易将III‑V族化合物晶体从基板分离(剥离)的III‑V族化合物晶体的制造方法和半导体装置的制造方法。本发明的III‑V族化合物晶体的制造方法包括下述工序:晶种形成基板提供工序,提供在基板(11)上形成有III‑V族化合物晶种(12a)的晶种形成基板;晶种一部分分离工序,将III‑V族化合物晶种(12a)的与基板(11)接触的部分的一部分从基板(11)分离;以及晶体生长工序,在上述晶种一部分分离工序后,以III‑V族化合物晶种(12a)作为核而使III族元素与V族元素反应,从而生成III‑V族化合物晶体(12)并使其生长。
技术领域
本发明涉及III-V族化合物晶体的制造方法和半导体装置的制造方法。
背景技术
氮化镓(GaN)等III-V族化合物半导体(也被称作III-V族半导体或GaN系半导体等)被广泛用作激光二极管(LD)、发光二极管(LED)等各种半导体元件的材料。
作为简便地制造III-V族化合物半导体的方法,使用例如气相外延生长法(有时也简称为“气相生长法”)(专利文献1和2)。气相外延生长法所生长的晶体的厚度有限,但通过近年来的改良,能够得到厚度大的III-V族化合物晶体。气相生长法有氢化物气相生长法(Hydride Vapor Phase Epitaxy、HVPE,氢化物气相外延法)、有机金属气相生长法(也称为MOCVD:Metalorganic Chemical Vapor Deposition,有机金属化学气相沉积法、或者MOVPE:metal-organic vapor phase epitaxy,金属有机化合物气相外延法)等。在专利文献1和2中,在蓝宝石基板上形成缓冲层(应力缓和层),进一步在其上通过气相生长法形成氮化镓层。
另外,作为III-V族化合物晶体的制造方法,还使用了在液相中使晶体生长的液相生长法(LPE:液相外延法(Liquid Phase Epitaxy))。该液相生长法存在需要高温高压的问题,但通过近年来的改良,能够在比较低温低压下进行,成为也适于量产的方法(专利文献3等)。上述液相生长法(LPE)可以为例如下述的方法:在基板上使作为晶种的III-V族化合物晶体层通过MOCVD成膜后,通过液相生长法使上述III-V族化合物晶体进一步生长(专利文献3等)。
现有技术文献
专利文献
专利文献1:日本特公平7-54806号公报
专利文献2:日本特开2014-009156号公报
专利文献3:日本专利第4920875号公报
发明内容
发明所要解决的课题
为了将所制造的III-V族化合物晶体从基板分离(剥离),可以采用例如以下的方法。即,首先从基板侧照射透过性的激光使其在缓冲层会聚,形成剥离层。其后,施加外力将上述基板从III-V族化合物晶体剥离。
但是,该方法存在以下的问题。首先,III-V族化合物晶体例如在炉内在基板上以800~1200℃等的高温生长。其后,为了通过激光照射对上述III-V族化合物晶体和上述基板进行加工,需要将其从炉内取出。此时,上述III-V族化合物晶体和上述基板被冷却至例如室温。在该冷却时,由于上述III-V族化合物晶体与上述基板的热膨胀系数之差,上述III-V族化合物晶体和上述基板有可能发生应变而弯曲。例如,在通常使用的蓝宝石和氮化镓中,热膨胀系数之差约为35%。这种情况下,由于蓝宝石的热膨胀系数小于氮化镓,因而通过冷却,蓝宝石基板弯曲而使氮化镓侧呈凸形状。为了对弯曲的基板的缓冲层照射激光而形成加工层,需要与弯曲相应地调整激光的会聚位置(加工位置)。由于该调整伴有困难,因而难以通过激光照射形成剥离层。另外,由于弯曲的基板具备内部应力,因而在剥离层的形成中蓝宝石基板与氮化镓基板的应力发生变化,从而使基板的弯曲形状发生变化。因此,使激光会聚的加工位置发生变化,从而使上述加工位置的调整变得更困难。
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