[发明专利]半导体器件在审
申请号: | 201811037718.2 | 申请日: | 2018-09-06 |
公开(公告)号: | CN110880929A | 公开(公告)日: | 2020-03-13 |
发明(设计)人: | 林祐贤;杨正杰;姚秀艳 | 申请(专利权)人: | 长鑫存储技术有限公司 |
主分类号: | H03K19/007 | 分类号: | H03K19/007;H03K19/21 |
代理公司: | 北京律智知识产权代理有限公司 11438 | 代理人: | 袁礼君;阚梓瑄 |
地址: | 230000 安徽省合肥市*** | 国省代码: | 安徽;34 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | |||
搜索关键词: | 半导体器件 | ||
1.一种半导体器件,其特征在于,包括:
多个主互连元件,配置为提供多条信号传输通道;
冗余互连元件;以及
逻辑控制电路,配置为若所述多个主互连元件中的任意两个或者以上主互连元件发生故障,则通过所述冗余互连元件提供信号传输通道以替换发生故障的主互连元件提供的两条或者以上信号传输通道。
2.根据权利要求1所述的半导体器件,其特征在于,所述多个主互连元件包括:
第一主互连元件,配置为正常状态下,提供第一输入信号和第一输出信号之间的第一信号传输通道;
第二主互连元件,配置为正常状态下,提供第二输入信号和第二输出信号之间的第二信号传输通道。
3.根据权利要求2所述的半导体器件,其特征在于,所述逻辑控制电路包括:
输入转换电路,配置为若所述第一主互连元件和所述第二主互连元件同时发生故障,则根据所述第一输入信号和所述第二输入信号生成一电压信号至所述冗余互连元件;
输出转换电路,配置为若所述第一主互连元件和所述第二主互连元件同时发生故障,则根据所述电压信号生成所述第一输出信号和所述第二输出信号。
4.根据权利要求3所述的半导体器件,其特征在于,所述电压信号包括第一电压信号、第二电压信号、第三电压信号和第四电压信号;其中,所述输入转换电路包括:
控制子电路,配置为根据所述第一输入信号和所述第二输入信号生成第一选通信号、第二选通信号、第三选通信号和第四选通信号;
分压子电路,配置为根据所述第一选通信号、所述第二选通信号、所述第三选通信号和所述第四选通信号选择所述第一至第四电压信号中的任意一个输出至所述冗余互连元件。
5.根据权利要求4所述的半导体器件,其特征在于,所述控制子电路包括:
或门,所述或门的第一输入端用于接收所述第一输入信号,所述或门的第二输入端用于接收所述第二输入信号;
第一非门,所述第一非门的输入端电连接所述或门的输出端,所述第一非门的输出端用于输出所述第一选通信号;
第二非门,所述第二非门的输入端用于接收所述第二输入信号;
异或门,所述异或门的第一输入端用于接收所述第一输入信号,所述异或门的第二输入端用于接收所述第二输入信号;
第一与门,所述第一与门的第一输入端电连接所述第二非门的输出端,所述第一与门的第二输入端电连接所述异或门的输出端,所述第一与门的输出端用于输出所述第二选通信号;
第三非门,所述第三非门的输入端用于接收所述第一输入信号;
第二与门,所述第二与门的第一输入端电连接所述第三非门的输出端,所述第二与门的第二输入端电连接所述异或门的输出端,所述第二与门的输出端用于输出所述第三选通信号;
第三与门,所述第三与门的第一输入端用于接收所述第一输入信号,所述第三与门的第二输入端用于接收所述第二输入信号,所述第三与门的输出端用于输出所述第四选通信号。
6.根据权利要求4所述的半导体器件,其特征在于,所述分压子电路包括:
第一晶体管,所述第一晶体管的控制端用于接收所述第一选通信号,所述第一晶体管的第一端电连接至第一分压节点,所述第一晶体管的第二端用于输出所述第一电压信号;
第二晶体管,所述第二晶体管的控制端用于接收所述第二选通信号,所述第二晶体管的第一端电连接至第二分压节点,所述第二晶体管的第二端用于输出所述第二电压信号;
第三晶体管,所述第三晶体管的控制端用于接收所述第三选通信号,所述第三晶体管的第一端电连接至第三分压节点,所述第三晶体管的第二端用于输出所述第三电压信号;
第四晶体管,所述第四晶体管的控制端用于接收所述第四选通信号,所述第四晶体管的第一端电连接至第四分压节点,所述第四晶体管的第二端用于输出所述第四电压信号。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于长鑫存储技术有限公司,未经长鑫存储技术有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201811037718.2/1.html,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇:一种含硼高分子缓释肥的养分释放测试方法
- 下一篇:电子装置及其操作方法