[发明专利]基于显示面板缺陷检测的快速自动曝光方法及系统

说明书

本发明涉及面板检测技术领域，具体涉及一种基于显示面板缺陷检测的快速自动曝光方法及系统。从显示屏画面图像中提取屏幕ROI区域；根据显示屏屏幕亮度和画面灰阶的gamma关系计算显示面板待检测画面的曝光参数；根据计算出的显示面板待检测画面的曝光参数调节相机曝光时间和增益，采集屏幕相应待检测画面，判断屏幕亮度是否合格；若屏幕亮度合格，则切换下一个待检测画面进行曝光参数计算。制作gamma画面计算屏幕实际gamma参数，再利用实际的屏幕gamma参数预测各灰阶画面的相机曝光参数，可以有效的一次性达到自动曝光效果，运算速度快，实时性强。

技术领域

本发明涉及面板检测技术领域，具体涉及一种基于显示面板缺陷检测的快速自动曝光方法及系统。

背景技术

针对显示面板视觉检测系统，面板高质量图像是后续图像处理和缺陷分析的基础，它直接关系到整个系统的测量精度，而在成像设备一定的情况下，曝光量是影响成像质量的关键因素之一。曝光量的手动控制存在效率低、缺乏客观的评价标准等缺陷。

现有面板视觉检测的自动曝光技术中，工业相机进行自动曝光，根据期望的亮度范围，利用相机亮度与曝光量和增益的关系，采用多次曝光快速逼近的策略来实现快速曝光控制。此类方法存在一定问题：

1、对于面板非均匀画面和低灰阶画面的检测要求，多次曝光快速逼近的策略，使迭代次数过多，大大的增加的系统时间复杂度，降低了工业生产线上面板检测效率。

2、屏幕存在缺陷或自身亮度分布不均匀的问题，通过计算整体屏幕亮度来作为自动曝光的判断依据不够精确。

发明内容

本发明的目的就是针对现有技术的缺陷，提供一种曝光迅速、且能有效消除屏幕缺陷和屏幕亮度的不均性给自动曝光带来的不利影响的基于显示面板缺陷检测的快速自动曝光方法及系统。

本发明一种基于显示面板缺陷检测的快速自动曝光方法，其技术方案为：

步骤1：采集显示屏画面图像，并从显示屏画面图像中提取ROI区域；

步骤2：根据显示屏屏幕亮度和画面灰阶的gamma关系计算显示面板待检测画面的曝光参数；

步骤3：根据显示面板待检测画面的曝光参数调节相机，采集屏幕检测画面，判断屏幕亮度是否合格；

步骤4：若屏幕亮度不合格，则重复步骤2和3若屏幕亮度合格，则切换下一个检测画面，重复步骤1～4直至所有检测画面处理完毕。

较为优选的，所述步骤1中，采集显示屏画面图像，并从显示屏画面图像中提取ROI区域包括：

根据采集到实际灰度值为255的显示屏画面图像，进行图像阈值分割，获取屏幕的ROI分割参数；

然后将显示屏画面切换成gamma画面，针对gamma画面，使用屏幕的ROI分割参数分割出gamma屏幕画面；

根据gamma画面的若干块目标区域，利用图像阈值分割的方法，依次分割出若干块不同灰度的区域。

较为优选的，

步骤2中，根据显示屏屏幕亮度和画面灰阶的gamma关系计算显示面板待检测画面的曝光参数包括：

根据显示屏屏幕亮度和画面灰阶的gamma关系计算显示面板各个待检测画面的理论亮度值Y；

根据待检测画面的理论亮度值Y、上一幅图像曝光时间为t，上一幅图像信号增益为G和待检测画面的目标亮度Y0计算待检测画面的曝光时间和增益；

其中，若当前检测画面为第一个画面时，则所述上一幅图像曝光时间t取初始曝光时间initT、上一幅图像信号增益G取初始增益initG；