[发明专利]基于傅里叶变换的干涉离焦像散斑转向判别方法有效
申请号: | 201811038665.6 | 申请日: | 2018-09-06 |
公开(公告)号: | CN109141639B | 公开(公告)日: | 2021-02-09 |
发明(设计)人: | 张红霞;孙金露;王晓磊;贾大功;刘铁根 | 申请(专利权)人: | 天津大学 |
主分类号: | G01J3/45 | 分类号: | G01J3/45;G01N15/02 |
代理公司: | 天津市北洋有限责任专利代理事务所 12201 | 代理人: | 李素兰 |
地址: | 300072*** | 国省代码: | 天津;12 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 基于 傅里叶变换 干涉 离焦像散斑 转向 判别 方法 | ||
本发明公开了一种基于傅里叶变换的干涉离焦像散斑转向判别方法,步骤(1)、利用干涉粒子成像系统,获取任意转向下透明椭球粒子的干涉离焦像;步骤(2)、利用MATLAB对干涉离焦像进行傅里叶变换处理;步骤(3)、对图像处理结果二值化,得到傅里叶变换处理的中心亮斑;步骤(4)、利用椭圆圈出亮斑,沿椭圆长轴方向画线得到亮斑转向;步骤(5)、做步骤(3)中亮斑转向的垂线,垂线方向即为干涉离焦像散斑转向。本发明可以实现粒子干涉离焦像的散斑转向判别,进而实现粒子的转向判别,为复杂粒子场测量提供技术支持。
技术领域
本发明涉及光学系统中椭球粒子的测量技术领域,特别是涉及一种复杂粒子干涉离焦像散斑转向的判别方法。
背景技术
干涉粒子成像技术具有精度高、测量范围广和非接触等优点,因此广泛应用于粒子测量领域。在测量过程中,透明球形粒子的干涉聚焦像为两点像,干涉离焦像为明暗相间的条纹图像,通过分析干涉聚焦像或干涉离焦像可获取粒子尺寸、位置坐标和运动速度等信息。透明椭球粒子的干涉离焦像为散斑图像,粒子转向的变化导致干涉离焦像散斑转向的变化,通过分析散斑的转向信息可获取粒子的转向信息,因此,干涉离焦像的散斑转向判别具有重要意义。
利用干涉粒子成像技术实现透明椭球粒子测量中,专利CN103868831A提出一种《云粒子谱分布测量方法及测量系统》,通过离焦干涉图和退偏离焦干涉图实现云粒子的相态判别。
目前,现有技术中还没有对透明椭球粒子干涉离焦像散斑转向判别的实例。
发明内容
在上述现有技术的基础上,本发明提出了一种基于傅里叶变换的干涉离焦像散斑转向判别方法,通过对干涉离焦像的傅里叶变换获取散斑转向,适用于光学系统中透明椭球粒子的测量。
本发明的一种基于傅里叶变换的干涉离焦像散斑转向判别方法,该方法包括以下步骤:
步骤1、利用干涉粒子成像系统,获取任意转向下透明椭球粒子的干涉离焦像;
步骤2、利用MATLAB对干涉离焦像进行傅里叶变换处理,对傅里叶变换处理的结果图像进行二值化,得到傅里叶变换处理的中心亮斑;
步骤3、利用椭圆圈出亮斑,沿椭圆长轴方向画线得到亮斑转向;
步骤4、做步骤3中亮斑转向的垂线,垂线方向即为干涉离焦像散斑转向。
本发明可以实现透明椭球粒子干涉离焦像的散斑转向判别,进而实现透明椭球粒子的转向判别,为复杂粒子场测量提供技术支持。
附图标记
图1为本发明的透明椭球粒子干涉离焦像散斑转向判别方法流程图。
图2为干涉粒子成像系统实例结构图,其中:1、激光器,2、显微物镜,3、空间滤波器,4、准直透镜,5、柱面镜一,6、柱面镜二,7、载玻片,8、成像透镜,9、CCD。
图3为干涉离焦像及处理结果示意图,其中:(a)-(d)是具有不同散斑转向的透明椭球粒子干涉离焦像;(e)-(h)是干涉离焦像的傅里叶变换处理结果;(i)-(l)干涉离焦像散斑放大和干涉离焦像傅里叶亮斑放大的组合图像。
具体实施方式
下面将结合附图对本发明的实施方式作进一步的详细描述。
实施例1:干涉粒子成像系统
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