[发明专利]一种p型AlGaN半导体材料及其外延制备方法有效
申请号: | 201811039147.6 | 申请日: | 2018-09-06 |
公开(公告)号: | CN109166910B | 公开(公告)日: | 2020-07-14 |
发明(设计)人: | 江灏;王海龙 | 申请(专利权)人: | 中山大学 |
主分类号: | H01L29/15 | 分类号: | H01L29/15;H01L21/02 |
代理公司: | 广州润禾知识产权代理事务所(普通合伙) 44446 | 代理人: | 林伟斌;张柳 |
地址: | 510275 广东*** | 国省代码: | 广东;44 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 algan 半导体材料 及其 外延 制备 方法 | ||
1.一种p型AlGaN半导体材料,包括p型AlGaN外延层,其特征在于,所述p型AlGaN外延层由若干个AlN和GaN周期性交替叠层组成,AlN和GaN周期性交替叠层形成具有等效Al组分的AlGaN层,并且AlGaN层的等效Al组分呈周期性变化,每个周期内可不分先后的包含以下两个部分:
(1)由AlN和GaN周期性交替叠层构成的结构,其等效Al组分较低;
(2)由AlN和GaN周期性交替叠层构成的结构,其等效Al组分较高;
其中,GaN层为p型掺杂层;AlGaN层中等效Al组分较低部分的总厚度大于等效Al组分较高部分的总厚度。
2.根据权利要求1所述的一种p型AlGaN半导体材料,其特征在于,p型掺杂杂质为Mg、Zn、Be、C中的一种元素原子。
3.根据权利要求1或2所述的一种p型AlGaN半导体材料,其特征在于,AlGaN层的等效Al组分可调节。
4.根据权利要求3所述的一种p型AlGaN半导体材料,其特征在于,AlN和GaN周期性交替叠层的单个周期内AlN和GaN的厚度为0.5nm~5nm。
5.根据权利要求1所述的一种p型AlGaN半导体材料,其特征在于,AlGaN层中等效Al组分较低部分与等效Al组分较高部分之间,可以是等效Al组分突变的结构,也可以是等效Al组分渐变的结构。
6.根据权利要求1所述的一种p型AlGaN半导体材料的外延制备方法,其特征在于,AlN和GaN周期性交替叠层由分别关闭Ga源和关闭Al源而实现。
7.根据权利要求1所述的一种p型AlGaN半导体材料的外延制备方法,其特征在于,GaN的p型掺杂可以通过同时开启Ga源、N源和受主掺杂源来实现,也可通过先开启Ga源和N源生长GaN层,再关闭Ga源、通受主掺杂源,然后再关闭受主掺杂源开启Al源生长AlN层来实现。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于中山大学,未经中山大学许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201811039147.6/1.html,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇:一种功率器件及其制备方法
- 下一篇:薄膜晶体管、阵列基板以及显示装置
- 同类专利
- 专利分类