[发明专利]图像配准方法、设备和存储介质有效

专利信息
申请号: 201811042252.5 申请日: 2018-09-07
公开(公告)号: CN109389628B 公开(公告)日: 2021-03-23
发明(设计)人: 李永;吴岳辛;王凡;李慧;张高鑫 申请(专利权)人: 北京邮电大学
主分类号: G06T7/33 分类号: G06T7/33
代理公司: 北京同立钧成知识产权代理有限公司 11205 代理人: 张子青;刘芳
地址: 100876 *** 国省代码: 北京;11
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摘要:
搜索关键词: 图像 方法 设备 存储 介质
【权利要求书】:

1.一种图像配准方法,其特征在于,包括:

获取源图像和目标图像,所述源图像和所述目标图像分别为不同频段传感器检测出的图像;

提取所述源图像和所述目标图像的第一特征点和第一特征直线,其中,所述第一特征点和所述第一特征直线是根据预先定义的筛选条件,从图像的所有特征点和特征直线中筛选出来的;

根据所述源图像的第一特征点和第一特征直线,获取所述源图像的采样点的描述符或者所述源图像的样本,并根据所述目标图像的第一特征点和第一特征直线,获取所述目标图像的采样点的描述符或者所述目标图像的样本;

所述根据所述源图像的第一特征点和第一特征直线获取所述源图像的采样点的描述符,包括:

获取所述源图像的第一特征点到第一特征直线之间的第一垂线;

在所述第一垂线上等距离进行采样,得到所述源图像的采样点;

计算获得所述源图像的采样点的边缘方向直方图EOH描述符;

相应的,所述根据所述目标图像的第一特征点和第一特征直线获取所述目标图像的采样点的描述符,包括:

获取所述目标图像的第一特征点到第一特征直线之间的第二垂线;

在所述第二垂线上等距离进行采样,得到所述目标图像的采样点;

计算获得所述目标图像的采样点的EOH描述符;

根据所述源图像和所述目标图像的采样点的描述符或者所述源图像和所述目标图像的样本,确定所述源图像和所述目标图像是否匹配;

所述根据所述源图像的第一特征点和第一特征直线获取所述源图像的样本,包括:根据所述源图像的第一特征点到所述第一特征直线中点的距离,提取所述源图像的样本;其中,所述提取所述源图像的样本,包括:以所述第一特征直线中点的坐标为中心,截取图像块作为所述源图像的样本;相应的,所述根据所述目标图像的第一特征点和第一特征直线获取所述目标图像的样本,包括:根据所述目标图像的第一特征点到所述第一特征直线中点的距离,提取所述目标图像的样本;其中,所述提取所述目标图像的样本,包括:以所述第一特征直线中点的坐标为中心,截取图像块作为所述目标图像的样本。

2.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述第一特征直线的数量为两条且相交,所述源图像的两条第一特征直线之间的交点为第一交点,所述目标图像的两条第一特征直线之间的交点为第二交点,所述根据所述源图像的第一特征点和第一特征直线,获取所述源图像的采样点的描述符,包括:

根据所述源图像的第一特征点和所述源图像第一交点,对所述源图像的第一特征直线进行采样,获取所述源图像的第一特征直线的采样点;

通过计算所述源图像的第一特征直线的采样点的EOH描述符,得到所述源图像的采样点的描述符;

相应的,所述根据所述目标图像的第一特征点和第一特征直线获取所述目标图像的采样点的描述符,包括:

根据所述目标图像的第一特征点和所述目标图像的第一交点,对所述目标图像的第一特征直线进行采样,获取所述目标图像的第一特征直线的采样点;

通过计算所述目标图像的第一特征直线采样点的EOH描述符,得到所述目标图像的采样点的描述符。

3.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述提取所述源图像和所述目标图像的第一特征点和第一特征直线,包括:

获取所述源图像的所有特征点和所有特征直线;

计算得到所述源图像的每个特征点到每条特征直线的距离;

判断所述源图像的每个特征点到每条特征直线的距离是否满足第一预设范围,若是,则根据特征点到特征直线端点的直线与特征直线的夹角,提取所述源图像第一特征点和第一特征直线;

相应的,

获取所述目标图像的所有特征点和所有特征直线;

计算得到所述目标图像的每个特征点到每条特征直线的距离;

判断所述目标图像的每个特征点到每条特征直线的距离是否满足第一预设范围,若是,则根据特征点到特征直线端点的直线与特征直线的夹角,提取所述目标图像第一特征点和第一特征直线。

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