[发明专利]光热吸收测试系统和光热吸收测试方法在审
申请号: | 201811044760.7 | 申请日: | 2018-09-07 |
公开(公告)号: | CN109211792A | 公开(公告)日: | 2019-01-15 |
发明(设计)人: | 刘志超;许乔;李亚国;耿锋;欧阳升;金会良;王度;袁志刚;王健;张清华 | 申请(专利权)人: | 中国工程物理研究院激光聚变研究中心 |
主分类号: | G01N21/17 | 分类号: | G01N21/17 |
代理公司: | 北京超凡志成知识产权代理事务所(普通合伙) 11371 | 代理人: | 吴开磊 |
地址: | 610000 四*** | 国省代码: | 四川;51 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | |||
搜索关键词: | 测试面 光热吸收 探测激光 泵浦激光 测试 泵浦激光器 探测激光器 延时发生器 测试系统 激光测量技术 位置传感器 测试样品 输出泵浦 形变过程 预设时长 输出 反射光 偏转量 光热 反射 激光 填补 检测 | ||
1.一种光热吸收测试系统,其特征在于,包括:
泵浦激光器,该泵浦激光器用于输出泵浦激光至待测试样品的测试面;
探测激光器,该探测激光器用于在所述泵浦激光作用于所述测试面前输出第一探测激光至该测试面,并在所述泵浦激光作用于所述测试面后输出第二探测激光至该测试面;
位置传感器,该位置传感器设置于探测激光经过所述测试面后的反射光路上,以检测经过所述测试面反射的第一探测激光和第二探测激光之间的偏转量;
延时发生器,该延时发生器分别与所述泵浦激光器和所述探测激光器连接,以控制所述第二探测激光在所述泵浦激光作用于所述测试面预设时长之后作用于该测试面,以对所述待测试样品的测试面在泵浦激光的作用后任意一个时刻第一探测激光和第二探测激光之间的偏转量进行测试,以得到对应的瞬态光热吸收特性。
2.根据权利要求1所述的光热吸收测试系统,其特征在于,还包括:
上位机,该上位机与所述位置传感器连接,以获取所述位置传感器检测得到偏转量,并基于该偏转量计算得到所述测试面的瞬态光热吸收特性。
3.根据权利要求1或2所述的光热吸收测试系统,其特征在于,还包括:
第一反射器,该第一反射器设置于所述探测激光器和所述测试面之间,以使所述探测激光器输出的探测激光经过所述第一反射器后反射至所述测试面。
4.根据权利要求3所述的光热吸收测试系统,其特征在于,还包括:
第一透镜,该第一透镜设置于所述第一反射器和所述测试面之间,以使经过所述第一反射器反射的探测激光经过所述第一透镜的聚集处理后输出至所述测试面。
5.根据权利要求1或2所述的光热吸收测试系统,其特征在于,还包括:
第二反射器,该第二反射器设置于所述泵浦激光器和所述测试面之间,以使所述泵浦激光器输出的泵浦激光经过所述第二反射器后反射至所述测试面。
6.根据权利要求5所述的光热吸收测试系统,其特征在于,还包括:
第二透镜,该第二透镜设置于所述第二反射器和所述测试面之间,以使经过所述第二反射器反射的泵浦激光经过所述第二透镜的聚集处理后输出至所述测试面。
7.一种光热吸收测试方法,应用于权利要求1-6任意一项所述的光热吸收测试系统,其特征在于,所述方法包括:
探测激光器输出第一探测激光至待测试样品的测试面,以使该第一探测激光经过该测试面反射至位置传感器;
在停止输出所述第一探测激光之后,泵浦激光器输出泵浦激光至所述测试面以使该测试面发生形变;
在输出该泵浦激光第一预设时长之后,所述探测激光器输出第二探测激光至发生形变的测试面以使该第二探测激光经过该测试面反射至所述位置传感器;
所述位置传感器对获取的第一探测激光和第二探测激光进行检测,以得到该第一探测激光和第二探测激光之间的偏转量;
上位机获取所述偏转量,并根据该偏转量计算得到所述待测试样品的测试面的光热吸收特性。
8.根据权利要求7所述的光热吸收测试方法,其特征在于,在执行在输出泵浦激光第一预设时长之后,所述探测激光器输出第二探测激光至发生形变的测试面以使该第二探测激光经过该测试面反射至所述位置传感器的步骤之后,所述方法还包括:
a,所述泵浦激光器停止输出泵浦激光至所述测试面,且所述探测激光器停止输出第二探测激光至测试面;
b,在发生形变的测试面恢复形变后,所述泵浦激光器再次输出泵浦激光至所述测试面以使该测试面再次发生形变;
c,在输出该泵浦激光第二预设时长之后,所述探测激光器再次输出第二探测激光至发生形变的测试面以使该第二探测激光经过该测试面反射至所述位置传感器,其中,所述第二预设时长不等于所述第一预设时长;
重复执行步骤a、步骤b、以及步骤c多次,多次执行步骤c对应的第二预设时长不同,以对测试面在泵浦激光的作用下的多个不同时刻的形变进行测试,以得到多个形变的瞬态值。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于中国工程物理研究院激光聚变研究中心,未经中国工程物理研究院激光聚变研究中心许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201811044760.7/1.html,转载请声明来源钻瓜专利网。