[发明专利]测试结构光投影仪倾斜方法、装置、设备及存储介质在审
申请号: | 201811045576.4 | 申请日: | 2018-09-07 |
公开(公告)号: | CN109186495A | 公开(公告)日: | 2019-01-11 |
发明(设计)人: | 林挺;曾菲菲 | 申请(专利权)人: | 信利光电股份有限公司 |
主分类号: | G01B11/25 | 分类号: | G01B11/25 |
代理公司: | 深圳市深佳知识产权代理事务所(普通合伙) 44285 | 代理人: | 王仲凯 |
地址: | 516600 广东省汕*** | 国省代码: | 广东;44 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 测试结构 投影仪 光投影仪 成像图像 投影平面 计算机可读存储介质 结构光图像 存储介质 倾斜装置 倾斜状态 投影图像 感光面 光模组 结构光 感光 缩放 投射 预设 平行 图像 拍摄 检测 | ||
本发明公开了一种测试结构光模组投影仪倾斜的方法,包括:调整CCD相机的感光面和投影平面平行;获得CCD相机拍摄投影平面上的结构光图像,在CCD相机的感光面上形成成像图像;判断成像图像是否为投影图像按照预设比例的缩放获得的图像,若否则所述投影仪存在倾斜。本发明所提供的测试结构光投影仪倾斜的方法,能够简单准确的检测出投影仪的倾斜状态,有利于对结构光的投射方向做更精准的控制。本发明中还提供了一种测试结构光投影仪倾斜装置、设备以及计算机可读存储介质,具有上述有益效果。
技术领域
本发明涉及结构光技术领域,特别是涉及一种测试结构光投影仪倾斜方法、装置、设备及计算机可读存储介质。
背景技术
结构光的三维成像技术,实际上是三维参数的测量与重现,主要是区别于纯粹的像双目立体视觉之类的被动三维测量技术,因而被称为主动三维测量。需要主动去投射结构光到被测物体上,通过结构光的变形(或者飞行时间等)来确定被测物的尺寸参数。
结构光的类型就分为很多种,既是结构光,当然是将光结构化,简单的结构化包括点结构光,线结构光以及简单的面结构光等。复杂一点的结构化就上升到光学图案的编码。结构光投射到待测物表面后被待测物的高度调制,被调制的结构光经摄像系统采集,传送至计算机内分析计算后可得出被测物的三维面形数据。其中调制方式可分为时间调制与空间调制两大类。时间调制方法中最常用的是飞行时间法,该方法记录了光脉冲在空间的飞行时间,通过飞行时间解算待测物的面形信息;空间调制方法为结构光场的相位、光强等性质被待测物的高度调制后都会产生变化,根据读取这些性质的变化就可得出待测物的面形信息。
结构光模组中主要通过投影仪向投影平面投射结构光,但是对于某些生产不合格的投影仪而言,投影仪投射的0级光线可能存在和投影仪的平面部不垂直的情况,也即是投影仪投射的0级光线存在倾斜角。影响调节结构光投射角度的调节精度。但是,对于投影仪的0级光线是否倾斜,无法直接观察确定。
发明内容
本发明的目的是提供一种测试结构光模组投影仪倾斜的方法、装置、设备以及计算机可读存储介质,解决了难以判断结构光模组中投影仪是否存在倾斜的问题。
为解决上述技术问题,本发明提供一种测试结构光模组投影仪倾斜的方法,所述结构光模组包括投影平面和投影仪,所述投影平面背离所述投影仪的一侧设置有CCD相机;
所述方法包括:
调整所述CCD相机的感光面和所述投影平面平行;
获得所述CCD相机拍摄所述投影平面上的结构光图像,在所述CCD相机的感光面上形成成像图像,其中,所述结构光图像为所述投影仪的发光面上的投影图像投射至所述投影平面形成的图像;
判断所述成像图像是否为所述投影图像按照预设比例的缩放获得的图像,若否则所述投影仪存在倾斜。
其中,所述投影平面上设置有多个参考点;
所述调整所述CCD相机的感光面和所述投影平面平行包括:
获得多个所述参考点在所述CCD相机的感光面上成像像素点的第一坐标值,其中,所述成像像素点为所述CCD相机拍摄预先所述投影平面上的所述参考点,在所述CCD相机的感光面上形成的所述参考点的像素点;
根据所述第一坐标值获得所述投影平面上各个所述参考点的第二坐标值;
根据所述第二坐标值,获得所述CCD相机的感光面和所述投影平面之间的相对夹角;
根据所述相对夹角,调整所述CCD相机的感光面和所述投影平面平行;其中,所述第一坐标值和所述第二坐标值均是在所述CCD相机的感光面上建立的坐标系中的坐标值。
其中,所述投影平面上设置有A、B、C三个参考点,其中,A、B相连形成的线段AB垂直于B、C相连形成的线段BC;
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