[发明专利]具有压缩性弹簧组件的接触探针

说明书

本发明涉及具有压缩性弹簧组件（300）的接触探针，该接触探针能够在不影响弹簧使用寿命的情况下实现高弹簧力。所述接触探针包括管（200）、第一柱塞、第二柱塞（450）和压缩性弹簧组件（300），其中压缩性弹簧组件（300）包含至少一个内压缩性弹簧（301）和至少一个外压缩性弹簧（303）。所述内压缩性弹簧（301）具有第一卷绕方向，所述外压缩性弹簧（303）具有第二卷绕方向，其中第一卷绕方向与第二卷绕方向不同。

技术领域

本发明涉及具有压缩性弹簧组件的接触探针，该接触探针能够在不影响弹簧寿命的情况下实现高弹簧力。所述接触探针包括管、第一柱塞、第二柱塞和压缩性弹簧组件，其中压缩性弹簧组件包含至少一个内压缩性弹簧和至少一个外压缩性弹簧。所述内压缩性弹簧具有第一卷绕方向，所述外压缩性弹簧具有第二卷绕方向，其中第一卷绕方向与第二卷绕方向不同。

背景技术

接触探针被用于测试插座或测试接触器中，以在测试电路板和被测器件（DUT）（诸如电子封装）之间提供电互连。弹簧接触探针在现有技术中作为用于提供电互连的电接口是众所周知的。通常，弹簧接触探针包括圆柱形管、柱塞和弹簧，其中弹簧和柱塞被容纳在圆柱形管内。然后弹簧接触探针被组装进入测试插座或测试接触器中。

在DUT的电测试期间，柱塞沿着管轴向地滑动，弹簧被压缩从而推动柱塞与相应的接触元件接触。接触探针的一端与DUT的接触点电接触，而接触探针的相对端与测试设备的电路板接触。根据预先确定的参数和规格进行测量。

在大规模生产测试环境中，高弹簧力是低且稳定的接触电阻所期望的。然而，传统的单弹簧设计在弹簧特性上具有限制。增加弹簧力将引起弹簧寿命期望值缩短。例如，在期望的工作行程状态下，柱塞压缩单个弹簧直到期望的工作行程以获得期望的弹簧力。当预加载弹簧力约为处于工作行程中期望的弹簧力的50%，弹簧寿命约为100,000次循环。判断100,000次循环的弹簧寿命对于接触探针来说是不够的。如果可能的话，要求大约1,000,000次循环的弹簧的设计寿命。或者，可以增加弹簧的长度以具有更长的弹簧寿命，但是在电测试期间的高带宽要求将受到影响。因此，接触探针的长度必须保持最小，以避免高频信号的衰减。然而，存在设计出短接触探针而不影响弹簧力和使用寿命的挑战。另一方面，由于使用短销，测试插座的厚度也变薄。由于这个原因，当插座附接至负载板（PCB）时，出现了通过预加载使插座翘曲的问题。减少预加载也是使用短销的重要因素。

因此，具有能够克服上述缺点的接触探针是非常有利的。本发明提供用于短销、具有压缩性弹簧组件的接触探针，该接触探针被构造成实现期望的高弹簧力和高带宽要求。

发明内容

因此，本发明的主要目的是提供用于电测试、具有压缩性弹簧组件的接触探针。

本发明的进一步目的是提供具有双弹簧设计的接触探针。

本发明的进一步目的是提供能够满足高销力的接触探针。

本发明的进一步目的是提供具有短长度的接触探针，该接触探针可以实现高带宽要求。

本发明的进一步目的是提供具有改进的弹簧使用寿命的接触探针。

本发明的进一步目的是提供适用于大规模生产测试环境的接触探针。

本发明的进一步目的是根据预期的应用来提供具有期望的弹簧力的接触探针。

通过理解本发明的以下详细描述或在实际实践中使用本发明，本发明的其他目的将变得显而易见。

根据本发明的优选实施例，提供了以下内容：

接触探针，该接触探针包括：

管，该管具有第一端、第二端和从所述第一端延伸至所述第二端的通孔；

第一柱塞，该第一柱塞设置在所述第一端；