[发明专利]用于检测磷酸中硅物质的自动化系统

说明书

描述了用以提供远程样品中存在的硅物质的物质形成以用于分析的系统和方法。方法实施例包括但不限于在存在来自远程采样系统的结合硅的情况下经由流体传输线接收含有无机硅的流体样品；将流体样品传输到在线色谱分析分离系统；经由在线色谱分析分离系统将无机硅与结合硅分离；将分离的无机硅和结合硅传输到硅检测器，所述硅检测器与在线色谱分析分离系统流体连通；以及经由硅检测器确定流体样品中的无机硅或结合硅中的一者或多者的量。

相关申请的交叉引用

本专利申请要求享有于2017年9月8日提交的题为“AUTOMATED SYSTEM FORDETECTION OF SILICON SPECIES IN PHOSPHORIC ACID”的序列号为62/556,081的美国临时申请以及于2018年8月23日提交的题为“AUTOMATED SYSTEM FOR DETECTION OF SILICONSPECIES IN PHOSPHORIC ACID”的序列号为62/721,962的美国专利申请的35 U.S.C.§119(e)的权益。以引用方式将序列号为62/556,081和62/721,962的美国临时申请的全部内容明确并入本文。

背景技术

在许多实验室环境中，经常有必要一次分析大量化学或生物样品。为了精简这样的过程，对样品的操纵已经被机械化。这样的机械化的采样可以被称为自动采样，并且可以使用自动化采样设备或自动采样器来执行。

电感耦合等离子体(ICP)光谱法是通常用于测定液体样品中微量元素浓度和同位素比的分析技术。ICP光谱法采用电磁生成的部分电离的氩等离子体，其温度达到约7,000K。当样品被引入等离子体时，高温使得样品原子变成电离的或发光。由于每种化学元素产生特征质量或发射光谱，因此测量发射的质量或光的谱允许确定原始样品的元素组成。

可以采用样品引入系统来将液体样品引入ICP光谱测定仪器(例如，电感耦合等离子体质谱仪(ICP/ICP-MS)、电感耦合等离子体原子发射光谱仪(ICP-AES)等)或其他样品检测器或分析仪器中以用于分析。例如，样品引入系统可以从容器中取出等分试样的液体样品，并且然后将等分试样输送到雾化器，所述雾化器将等分试样转换成适于通过ICP光谱仪器在等离子体中电离的多分散气溶胶。然后将气溶胶在喷雾室中分选以除去较大的气溶胶颗粒。在离开喷雾室时，通过ICP-MS或ICP-AES仪器的等离子炬组件将气溶胶引入等离子体中以用于分析。

发明内容

描述了用以提供远程样品中存在的硅物质(silicon species)的物质形成以用于分析的系统和方法。方法实施例包括但不限于在存在来自远程采样系统的结合硅的情况下经由流体传输线接收含有无机硅的流体样品；将流体样品传输到在线色谱分析分离系统；经由在线色谱分析分离系统将无机硅与结合硅分离；将分离的无机硅和结合硅传输到硅检测器，所述硅检测器与在线色谱分析分离系统流体连通；以及经由硅检测器确定流体样品中的无机硅或结合硅中的一者或多者的量。

提供本发明内容是为了以简化的形式介绍一些构思，所述构思将在下面的具体实施方式中被进一步描述。本发明内容不旨在标识所要求保护的主题的关键特征或必要特征，也不旨在用于帮助确定所要求保护的主题的范围。

附图说明

参考附图描述了具体实施方式。附图中包括的任何尺寸仅作为示例而被提供，并且并不意味着限制本公开内容。

图1A是根据本公开内容的示例性实施例示出被配置为分析长距离输送的样品的系统的局部线图。

图1B和图1C提供了根据本公开内容的示例性实施例的用于分析远程样品的硅物质形成系统的环境视图。

图1D是根据本公开内容的示例性实施例的硅物质形成系统的环境视图。

图1E是根据本公开内容的示例性实施例的硅物质形成系统的环境视图。

图1F是根据本公开内容的示例性实施例的硅物质形成系统的环境视图。