[发明专利]一种光学谐振腔中的模式劈裂识别系统

权利要求书

1.一种光学谐振腔中的模式劈裂识别系统，其特征在于，包括：激光器，光纤分束器，第一双锥形光纤，第二双锥形光纤，光学谐振腔，可调谐光纤衰减器，光纤相移器，光纤合束器，以及探测显示装置；所述激光器，用于产生处于激光频率上的激光输出束；所述光纤分束器，位于所述激光输出束的光路上，并将所述激光输出束分成第一路分光和第二路分光；所述第一路分光通过所述第一双锥形光纤与所述光学谐振腔耦合，所述第一双锥形光纤的束腰区域与所述光学谐振腔的表面接触，从所述光学谐振腔中耦合出来的光与直接沿所述第一双锥形光纤传输的光一同输出至所述探测显示装置，被所述光学谐振腔表面散射的部分光沿与入射光反方向传输，并耦合至所述第二双锥形光纤；所述第二路分光通过所述可调谐光纤衰减器和所述光纤相移器后与所述第二双锥形光纤中传输的光一同输出至光纤合束器后输出至所述探测显示装置。

2.根据权利要求1所述的光学谐振腔中的模式劈裂识别系统，其特征在于，所述探测显示装置包括：探测器以及显示装置；所述探测器，用于探测输入至所述探测显示装置的光的光信号，并将所述光信号转换为电信号；所述显示装置，用于接收所述电信号并进行显示。

3.根据权利要求2所述的光学谐振腔中的模式劈裂识别系统，其特征在于，所述光信号为光的透过谱和背散射谱。

4.根据权利要求2或3所述的光学谐振腔中的模式劈裂识别系统，其特征在于，所述探测器包括第一探测器和第二探测器；

所述第一探测器，与所述第一双锥形光纤耦合；

所述第二探测器，与所述第二双锥形光纤耦合。

5.根据权利要求2或3所述的光学谐振腔中的模式劈裂识别系统，其特征在于，所述光学谐振腔为回音壁模式光学谐振腔。

6.根据权利要求2所述的光学谐振腔中的模式劈裂识别系统，其特征在于，所述电信号为电压信号。

7.根据权利要求1所述的光学谐振腔中的模式劈裂识别系统，其特征在于，所述显示装置为示波器。

8.根据权利要求1所述的光学谐振腔中的模式劈裂识别系统，其特征在于，所述激光器为波长可调谐窄线宽激光器，所述激光器的线宽小于谐振峰的线宽。

9.根据权利要求5所述的光学谐振腔中的模式劈裂识别系统，其特征在于，所述光学谐振腔的外表面处于所述第一双锥形光纤和所述第二双锥形光纤的束腰区消逝场内，且构成add-drop耦合结构。

10.根据权利要求1所述的光学谐振腔中的模式劈裂识别系统，其特征在于，所述光学谐振腔的表面存在缺陷或者表面分布不均匀。