[发明专利]用于电子元件的检测装置和利用其进行故障测试的方法有效
申请号: | 201811056543.X | 申请日: | 2018-09-11 |
公开(公告)号: | CN109326315B | 公开(公告)日: | 2021-04-20 |
发明(设计)人: | 韦拓明 | 申请(专利权)人: | OPPO(重庆)智能科技有限公司 |
主分类号: | G11C29/56 | 分类号: | G11C29/56 |
代理公司: | 深圳市恒申知识产权事务所(普通合伙) 44312 | 代理人: | 任哲夫 |
地址: | 401120 重庆*** | 国省代码: | 重庆;50 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 用于 电子元件 检测 装置 利用 进行 故障测试 方法 | ||
1.一种用于电子元件的检测装置,其特征在于,包括:
第一固定部件,所述第一固定部件上具有存储器安装件,所述存储器安装件用于可拆卸地设置存储器;
主板,所述主板对应设置在所述存储器的一侧,并与所述存储器电连接;
结果显示单元,所述结果显示单元与所述主板电连接;
所述存储器朝向所述主板的一侧设置有第一连接端;
所述主板朝向所述存储器的一侧设置有第二连接端,所述第二连接端与所述第一连接端相接触,以使得所述主板与所述存储器电连接;
所述存储器安装件为卡槽,所述卡槽上具有通孔,所述第二连接端穿过所述通孔与所述第一连接端相接触。
2.根据权利要求1所述的检测装置,其特征在于,所述第一连接端为焊球,所述第二连接端为具有顶针的卡座。
3.根据权利要求1所述的检测装置,其特征在于,所述结果显示单元包括显示模组,所述显示模组设置在所述第一固定部件上。
4.根据权利要求1所述的检测装置,其特征在于,还包括:
第二固定部件,所述第二固定部件设置在所述主板远离所述第一固定部件的一侧,用于固定所述主板。
5.根据权利要求4所述的检测装置,其特征在于,所述主板可拆卸的设置在所述第二固定部件上。
6.一种利用权利要求1~5中任一项所述的检测装置进行故障测试的方法,其特征在于,包括:
将存储器固定在第一固定部件的存储器安装件上;
将主板配合设置在所述存储器的一侧,并与所述存储器电连接;
对所述主板通电,以便对所述存储器进行读写,
如果所述存储器可进行正常读写,则表示所述存储器和所述主板均正常;
如果所述存储器无法正常读写,则表示所述存储器和所述主板中的至少之一故障。
7.根据权利要求6所述的方法,其特征在于,进一步包括:
当所述存储器无法正常读写时,将所述主板替换为无故障主板,对所述无故障主板通电,以便对所述存储器进行读写,
如果所述存储器可进行正常读写,则表示所述主板故障;
如果所述存储器无法正常读写,则表示所述存储器故障。
8.根据权利要求6所述的方法,其特征在于,进一步包括:
当所述存储器无法正常读写时,将所述存储器替换为无故障存储器,对所述主板通电,以便对所述无故障存储器进行读写,
如果所述无故障存储器可进行正常读写,则表示所述存储器故障;
如果所述无故障存储器无法进行读写,则表示所述主板故障。
9.根据权利要求6所述的方法,其特征在于,进一步包括:
当所述存储器可进行正常读写时,获取所述存储器的第一实际性能参数和所述主板的第二实际性能参数,将所述存储器的第一实际性能参数与所述存储器的第一标准性能指标进行比较,如果所述第一实际性能参数均符合所述第一标准性能指标,则表示所述存储器为良品,否则所述存储器为不良品;将所述主板的第二实际性能参数与所述主板的第二标准性能指标进行比较,如果所述第二实际性能参数均符合所述第二标准性能指标,则表示所述主板为良品,否则所述主板为不良品。
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