[发明专利]磁控式高抗本体测试方法

权利要求书

1.一种磁控式高抗本体测试方法，其特征在于，包括，

获取待测试的磁控式高抗本体，所述磁控式高抗本体包括：第一绕组模块、第二绕组模块、第三绕组模块和铁芯；所述第一绕组模块包括第一高压工作绕组、第一励磁绕组和第二励磁绕组；所述第二绕组模块包括第二高压工作绕组、第三励磁绕组和第四励磁绕组；所述第三绕组模块包括第三高压工作绕组、第五励磁绕组和第六励磁绕组；

根据所述第一绕组模块、所述第二绕组模块、所述第三绕组模块和所述铁芯，分别进行绝缘电阻测试、绕组电阻测试、联结组号测试、交流耐压测试、直流电阻测试，获得测试结果。

2.根据权利要求1所述的磁控式高抗本体测试方法，其特征在于，所述方法，还包括：

将所述测试结果与预先设定的标准值进行比较，若所述测试结果与所述标准值之间的偏差小于预设阈值，则所述磁控式高抗本体处于标准工作状态。

3.根据权利要求1所述的磁控式高抗本体测试方法，其特征在于，所述第一高压工作绕组包括第一电源输入端、第一端子和第二端子，所述第一励磁绕组包括第三端子和第四端子，所述第二励磁绕组包括第五端子和第六端子；所述第二高压工作绕组包括第二电源输入端、第七端子和第八端子，第三励磁绕组包括第九端子和第十端子，所述第四励磁绕组包括第十一端子和第十二端子；所述第三高压工作绕组包括第三电源输入端、第十三端子和第十四端子，第五励磁绕组包括第十五端子和第十六端子，所述第六励磁绕组包括第十七端子和第十八端子。

4.根据权利要求3所述的磁控式高抗本体测试方法，其特征在于，所述根据所述第一绕组模块、所述第二绕组模块、所述第三绕组模块和所述铁芯，进行绝缘电阻测试，包括：

所述第一电源输入端、所述第二电源输入端和所述第三电源输入端均与绝缘电阻测试仪连接，所述第一励磁绕组、所述第二励磁绕组、所述第三励磁绕组、所述第四励磁绕组、所述第五励磁绕组和所述第六励磁绕组的所有端子均接地，利用所述绝缘电阻测试仪测试得到所述第一高压工作绕组、所述第二高压工作绕组和所述第三高压工作绕组与地之间的的绝缘电阻；

所述第三端子和所述第四端子均与所述绝缘电阻测试仪连接，所述第一高压工作绕组、所述第二励磁绕组、所述第二绕组模块和所述第三绕组模块的所有端子均接地，利用所述绝缘电阻测试仪测试得到所述第一励磁绕组与地之间的绝缘电阻；

所述第五端子和所述第六端子均与所述绝缘电阻测试仪连接，所述第一高压工作绕组、所述第一励磁绕组、所述第二绕组模块和所述第三绕组模块的所有端子均接地，利用所述绝缘电阻测试仪测试得到所述第二励磁绕组与地之间的绝缘电阻；

所述铁芯与所述绝缘电阻测试仪连接，所述绝缘测试仪的另一端接地，利用所述绝缘电阻测试仪测试得到所述铁芯与地之间的绝缘电阻。

5.根据权利要求3所述的磁控式高抗本体测试方法，其特征在于，所述根据所述第一绕组模块、所述第二绕组模块、所述第三绕组模块和所述铁芯，进行绕组电阻测试，包括：

所述第一电源输入端与直流电阻测试仪连接，所述第二电源输入端与所述直流电阻测试仪连接，所述铁芯与地连接，利用所述直流电阻测试仪测试得到所述第一高压工作绕组的直流电阻；

所述第三端子与所述直流电阻测试仪连接，所述第四端子与所述直流电阻测试仪连接，所述铁芯与地连接，利用所述直流电阻测试仪测试得到所述第一励磁绕组的直流电阻；

所述第五端子与所述直流电阻测试仪连接，所述第六端子与所述直流电阻测试仪连接，所述铁芯与地连接，利用所述直流电阻测试仪测试得到所述第二励磁绕组的直流电阻。

6.根据权利要求3所述的磁控式高抗本体测试方法，其特征在于，所述根据所述第一绕组模块、所述第二绕组模块、所述第三绕组模块和所述铁芯，进行联结组号测试，包括：

所述第一电源输入端、所述第二电源输入端和所述第三电源输入端均与变比测试仪连接，所述铁芯接地，利用所述变比测试仪测量得到所述第一高压工作绕组、第二高压工作绕组和第三高压工作绕组之间的联结组号。