[发明专利]光学式传感器及检测方法在审

专利信息
申请号: 201811060000.5 申请日: 2018-09-12
公开(公告)号: CN109729289A 公开(公告)日: 2019-05-07
发明(设计)人: 安藤信太郎;饭田雄介;清水彻 申请(专利权)人: 欧姆龙株式会社
主分类号: H04N5/335 分类号: H04N5/335;H04N5/351;G01J1/42
代理公司: 北京同立钧成知识产权代理有限公司 11205 代理人: 杨贝贝;臧建明
地址: 日本京都府京都市下京区盐小路通堀川东*** 国省代码: 日本;JP
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摘要:
搜索关键词: 分布信号 受光 像素 光学式传感器 检测对象 数字信号 对象物 环境光 判定部 受光部 受光量 检测 转换 判定
【权利要求书】:

1.一种光学式传感器,检测对象物,包括:

受光部,多个像素分别接受光,获得表示每个所述像素的受光量的受光分布信号;

模拟/数字转换部,针对每个所述像素将所述受光分布信号转换成数字信号;

累计部,针对每个所述像素来累计多个经转换的所述受光分布信号;以及

判定部,根据经累计的所述受光分布信号来判定所述对象物的有无。

2.根据权利要求1所述的光学式传感器,还包括:

投光部,发出用于向所述对象物投光的光;以及

差值处理部,获得经转换的投光时的所述受光分布信号与经转换的非投光时的所述受光分布信号的差值的受光分布信号,

所述累计部针对每个所述像素来累计多个所述差值的受光分布信号。

3.根据权利要求1或2所述的光学式传感器,还包括距离计算部,所述距离计算部检测经累计的所述受光分布信号中的波峰,算出从所述光学式传感器到与所述波峰对应的位置的距离,且

所述判定部根据所述距离来判定所述对象物的有无。

4.根据权利要求1或2所述的光学式传感器,其中,所述受光部包含将所述多个像素一维或二维地分别排列而成的摄像元件,

所述受光部所获得的所述受光分布信号为所述摄像元件的每个所述像素的受光量。

5.一种检测方法,为检测对象物的光学式传感器的检测方法,包括以下步骤:

受光部中多个像素分别接受光,而获得表示每个所述像素的受光量的受光分布信号;

模拟/数字转换部针对每个所述像素将所述受光分布信号转换成数字信号;

累计部针对每个所述像素来累计多个经转换的所述受光分布信号;以及判定部根据经累计的所述受光分布信号来判定所述对象物的有无。

6.根据权利要求5所述的检测方法,其中,所述检测方法还包括以下步骤:

投光部发出用于向所述对象物投光的光;以及

差值处理部获得经转换的投光时的所述受光分布信号与经转换的非投光时的所述受光分布信号的差值的受光分布信号,

在进行所述累计的步骤中,所述累计部针对每个所述像素来累计多个所述差值的受光分布信号。

7.根据权利要求5或6所述的检测方法,其中,所述检测方法还包括以下步骤:距离计算部检测经累计的所述受光分布信号中的波峰,算出从所述光学式传感器到与所述波峰对应的位置的距离,

在进行所述判定的步骤中,所述判定部根据所述距离来判定所述对象物的有无。

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