[发明专利]一种石墨表面有无碳包覆层的检测方法

权利要求书

1.一种石墨表面有无碳包覆层的检测方法，其特征在于：步骤如下：

（1）选取不同晶体结构含量的多个石墨，先分别测试各个石墨的晶体结构含量A1i，再采用拉曼谱法获取各石墨中乱层结构特征值B1i；其中i为石墨的数量，取值为1，2，3，……，i；

（2）根据步骤（1）、（2）中获取的特征值进行数值分析，以晶体结构含量A1i为横坐标、乱层结构特征值B1i为纵坐标，得到二者之间的关系曲线；

（3）根据晶体结构含量A1i和该关系曲线得到石墨的乱层结构特征理论值B1i’，计算出乱层结构特征值B1i与乱层结构特征理论值B1i’的偏离度C1i；

（4）选取多个已知包覆有碳层的包覆石墨，同步骤（1）分别检测其晶体结构含量A2j和乱层结构特征实际值B2j，再根据晶体结构含量A2j和步骤（2）中的关系曲线得到其乱层结构特征理论值B2j’，然后计算出乱层结构特征实际值B2j与乱层结构特征理论值B2j’的偏离度C2j；其中j为包覆石墨的数量，取值为1，2，3，……，j；

（5）选出C1i中最大值C1imax和C2j中最小值C2jmin，得出偏离度阈值N为从C1imax到C2jmin；

（6）取待检测的石墨材料，同步骤（1）检测其晶体结构含量A3和乱层结构特征实际值B3；再根据步骤（2）的关系曲线得到其乱层结构特征理论值B3’，比较待检测的石墨材料的乱层结构特征实际值B3与乱层结构特征理论值B3’的偏离度C3；

（7）将偏离度C3与步骤（5）的偏离度阈值N比较，如果偏离度C3大于偏离度阈值N，即则可判断该待检测的石墨材料表面存在碳包覆层。

2.根据权利要求1所述的检测方法，其特征在于：步骤（1）中晶体结构含量是通过XRD检测的。

3.根据权利要求1所述的检测方法，其特征在于：步骤（3）中偏离度C1i＝（B1i -B1i’）/B1i’*100%。

4.根据权利要求1所述的检测方法，其特征在于：步骤（4）中偏离度C2j＝（B2j -B2j’）/B2j’*100%。

5.根据权利要求1所述的检测方法，其特征在于：步骤（6）中偏离度C3=（B3-B3’）/B3’*100%。

6.根据权利要求1所述的检测方法，其特征在于：所述晶体结构含量是使用层间距或石墨化度作为表征其晶体结构含量的特征值。

7.根据权利要求1所述的检测方法，其特征在于：所述拉曼谱法是使用拉曼图谱中D峰和G峰的峰面积比值或峰强度比值作为表征被检测石墨的乱层结构特征值。

8.根据权利要求1所述的检测方法，其特征在于：步骤（2）中关系曲线是使用线性拟合或幂指数拟合成的自变量乱层结构特征值B1i与因变量晶体结构含量A1i的函数关系式。

9.根据权利要求1所述的检测方法，其特征在于：所述的步骤（5）中偏离度阈值N为70%～110%。