[发明专利]一种存储器的配置方法及配置装置有效
申请号: | 201811062380.6 | 申请日: | 2018-09-12 |
公开(公告)号: | CN109343794B | 公开(公告)日: | 2021-11-09 |
发明(设计)人: | 陈奇强;吴双;崔涛;乔义松;徐林涛 | 申请(专利权)人: | 杭州晨晓科技股份有限公司 |
主分类号: | G06F3/06 | 分类号: | G06F3/06 |
代理公司: | 北京国昊天诚知识产权代理有限公司 11315 | 代理人: | 许志勇 |
地址: | 310053 浙江省杭州市*** | 国省代码: | 浙江;33 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 存储器 配置 方法 装置 | ||
1.一种存储器上的配置方法,其特征在于,包括:
确定存储器的多个片选中的高电位片选;
读取所述存储器上处于低电位片选的子区域的配置项,并将所述配置项返回写入对应的所述低电位片选的子区域;
当所述存储器的写使能信号处于高电位时,在与所述高电位片选对应的子区域进行配置项的读和/或写;
所述确定存储器的多个片选中的高电位片选中,所述高电位片选的数量为一个。
2.根据权利要求1所述的配置方法,其特征在于,所述在与所述高电位片选对应的子区域进行配置项的读和/或写包括:
将与所述高电位片选对应的子区域上的配置项赋值输出至处理器;和/或
接收处理器输入的下发配置,并将所述下发配置写入与所述高电位片选对应的子区域。
3.根据权利要求2所述的方法,其特征在于,任一所述子区域的位宽适于填入所述处理器输入的下发配置。
4.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述确定存储器的多个片选中的高电位片选之前,还包括:
在一个存储区域上,按宽度配置为多个子区域,一个所述子区域对应一组配置;
为所述每一个子区域设置一个片选。
5.根据权利要求4所述的方法,其特征在于,多个所述子区域的位宽相等;或多个所述子区域的位宽不完全相等。
6.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述存储器为FPGA的存储器。
7.一种存储器的配置装置,其特征在于,包括:
确定模块,用于确定存储器的多个片选中的高电位片选;
返回模块,用于读取所述存储器上处于低电位片选的子区域的配置项,并将所述配置项返回写入对应的所述低电位片选的子区域;
读写模块,用于当所述存储器的写使能信号处于高电位时,在与所述高电位片选对应的子区域进行配置项的读和/或写;
所述确定存储器的多个片选中的高电位片选中,所述高电位片选的数量为一个。
8.根据权利要求7所述的配置装置,其特征在于,还包括:
配置模块,用于在一个存储区域上,按宽度配置为多个子区域,一个所述子区域对应一组配置;
片选设置模块,用于为所述每一个子区域设置一个片选。
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