[发明专利]一种超低湿露点仪及其温度控制方法有效
申请号: | 201811062483.2 | 申请日: | 2018-09-12 |
公开(公告)号: | CN109085201B | 公开(公告)日: | 2023-09-15 |
发明(设计)人: | 唐慧强;濮铮;郑经烽 | 申请(专利权)人: | 南京信息工程大学 |
主分类号: | G01N25/66 | 分类号: | G01N25/66;G05B11/42 |
代理公司: | 南京钟山专利代理有限公司 32252 | 代理人: | 戴朝荣 |
地址: | 210044 江苏*** | 国省代码: | 江苏;32 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 低湿 露点 及其 温度 控制 方法 | ||
1.一种超低湿露点仪的温度控制方法,所述超低湿露点仪包括主控模块、制冷模块、测温模块、光学模块,主控模块与其他各模块相连,完成各模块的总控;所述主控模块包括stm32微控制器、功率桥堆、通信电路,并通过编程实施对各模块的控制;所述制冷模块由四级半导体制冷片堆叠而成四级制冷堆,并由所述主控模块控制对光学模块(冷镜)降温到其所需的超低温度值,根据需要可施加反向电流加热以消除凝结的露滴或结霜;所述测温模块由高精度温度计构成,其微型温度敏感元件嵌入到光学模块的光洁镜面的内部;所述光学模块由激光器、光洁镜面、透镜、光电传感器组成,置于一个不透光的空间中,激光器发射激光到镜面,其后将反射光通过透镜聚焦后送光电传感器检测,结露后反射光增强;所述光学模块的光洁镜面放置于制冷模块的四级制冷堆上,四级制冷堆放置于散热装置上;其特征在于:通过控制光强达到控温的效果,将反射光强输入动态PID控制器中,根据PID输出量改变占空比来控制四级制冷模块的制冷;由所述光学模块的激光器发射激光,光电传感器检测一组反射光数据,并以平均光强值Sm及均方差σ的加权和St=Sm+5σ作为设定值,控制四级制冷堆工作,当光强达到设定目标后测量出粗略露点Td,取得露点后确定下次控制的目标温度Ts,开机后首次取得粗略露点时,取Ts=Td-1,后续取得精密露点后,目标温度调整为Ts=Td-0.1;控制方法包括如下具体步骤:
(1)开机后检测一组反射光数据,求出光强设定值St,然后以最大驱动电压控制四级制冷堆的制冷,并设置一个极端低温如-100℃作为目标值,加速降温以缩短响应时间,当光强达到St时,首次测量出粗略露点值Td;
(2)取得露点温度后的后续过程中,采用动态PID参数以St为目标进行控制;根据反射光与设定值间的偏差、温度值与目标温度的偏差,计算出一组动态PID参数来调整镜面温度,并满足离目标温度及设定光强越近,温度波动越小;当温度差小于1或者反射光强误差小于0.1后采用一组固定的PID参数稳定反射光强,使镜面处于结露与未结露的临界状态,不断测量温度值;动态PID控制器算法为:
du=et*[p*(e1-e2)+i*e1+d*(e1-e2*2+e3)];
式中,e1为光强设定值St与实时光强值reallight的差值,e1=St-reallight,e2、e3分别为前两次的反射光强误差值,du是输出增量,et为实时温度与温度目标值差值的绝对值,et=temp-Ts,p、i、d为经整定符合调节要求的比例、积分、微分参数;
(3)对一定时段内所测温度值滑动平均后作为精密露点温度Td,并将目标温度调整为Ts=Td-0.1,继续使用新的目标温度来循环测量精密露点,以提高露点的稳定性。
2.根据权利要求1所述的超低湿露点仪的温度控制方法,其特征在于:所述光洁镜面与四级制冷堆及散热装置之间均涂有导热硅脂。
3.根据权利要求1所述的超低湿露点仪的温度控制方法,其特征在于:当et小于1或误差e1小于0.1时,et取为1,以稳定光强的控制。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于南京信息工程大学,未经南京信息工程大学许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201811062483.2/1.html,转载请声明来源钻瓜专利网。